[实用新型]一种高效可耐插拔的测试工装

说明书

一种高效可耐插拔的测试工装，包括上外壳、下外壳，设在上外壳与下外壳之间的PCB板，射频适配器公，射频适配器母，射频接头，以及结构件；所述上外壳连接在下外壳上；所述PCB板安装在下外壳的上端面；射频适配器母焊接在PCB板上；所述射频适配器公穿过结构件，与焊接在PCB板上的射频适配器母连接；所述结构件与下外壳连接。这个测试工装根据测试要求，在射频信号传输部分，将它的结构件部分设计成可快速更换型，在后面使用过程中如果射频适配器公有损坏的话，那么数据连线部分则无需拆解。使得在损坏维修部分减少时间。以便更高效的使用工装测试产品，进一步提高无源器件的测试效率。

技术领域

本实用新型涉及一种高效可耐插拔的测试工装，属于无源器件的回波损耗指标测试的技术领域。

背景技术

无源器件产品测试过程中，由于测试的产品不仅有射频信号方面还有数据信号方面，由于检测设备的数据线和测试工装的测试射频适配器母的连接是通过焊接完成连接的，导致后面拆卸比较麻烦需要全部拆散测试工装才能完成。

发明内容

针对现有技术存在的问题与不足，本实用新型提供一种高效可耐插拔的测试工装，该测试工装根据测试产品的需求，将射频信号和数据信号传输集于一体，在传输部分采用射频适配器他们之间可插拔设计成可快速更换型，如果后期测试过程中再遇到射频适配器损坏的，数据连线部分则无需拆解。缩短维护时间，减小维护成本。以便更高效的使用工装测试产品，进一步提高无源器件的测试效率。

一种高效可耐插拔的测试工装，包括上外壳、下外壳，设在上外壳与下外壳之间的PCB板，射频适配器公，射频适配器母，射频接头，以及结构件；

所述上外壳连接在下外壳上；所述PCB板安装在下外壳的上端面；所射频适配器公穿过结构件，与焊接在PCB板上的射频适配器母连接；所述结构件与下外壳连接；

所述PCB板上面设有两个对称且接头端水平朝外的射频接头，两个射频接头的一端焊接在PCB板上，通过PCB板上的微带线与射频适配器母相连；

所述与射频接头的接头并排设有第一数据连接器，用于连接检测设备；所述第一数据连接器焊接在PCB板上，且通过微带传输线与射频适配器母连接；

所述两个结构件包括上结构件和下结构件，上结构件设有两圆一方的上固定孔，下结构件设有一个方形的下固定孔，通过上下固定孔固定射频适配器公。

进一步地，所述测试工装配有数据传输线，数据传输线的一端与第一数据连接器连接，另一端与检测设备相连。

进一步地，所述射频适配器为一公一母，两者之间可插拔或拆卸。

进一步地，所述结构件为PEEK材料制成的结构件。

进一步地，两个射频接头的接头端用于连接矢量网络分析仪的输出端。

进一步地，所述上外壳一侧的两个角处分别设有两个用于露出两个射频接头的接头端的缺口。

本实用新型达到的有益效果为：提供一种高效可耐插拔的测试工装，该测试工装根据测试产品的需求，将射频信号和数据信号传输集于一体，在传输部分采用射频适配器他们之间可插拔设计成可快速更换型，如果后期测试过程中再遇到射频适配器损坏的，数据连线部分则无需拆解。缩短维护时间，减小维护成本。以便更高效的使用工装测试产品，进一步提高无源器件的测试效率。

附图说明

图1是本实用新型实施例中测试工装的分体结构示意图。

图2是本实用新型实施例中射频适配器母示意图。

图3是本实用新型实施例中PEEK材料结构示意图。

图4是本实用新型实施例中应用连接组件进行测试的电路原理图。

图5是本实用新型实施例中数据传输线的结构示意图。