[实用新型]一种基于chroma 3380P平台的128工位同测系统

说明书

本实用新型涉及一种基于chroma 3380P平台的128工位同测系统，包括机体，机体的顶部设置有控制电脑，机体的内部设置有测试箱，测试箱的外侧设置有透明罩，机体的底部设置有底箱，底箱的底部四角设置有支撑柱，底箱的底部还设置有滑轮，滑轮位于支撑柱内侧，机体的表面设置有开关，开关的顶部设置有按钮，控制电脑的一侧设置有防护罩，防护罩的内部设置有指示灯；机体的内部设置有合格槽，合格槽的一侧设置有不合格槽，不合格槽的一侧设置有机械抓手，机械抓手的一端设置有机械夹，机械抓手的一侧设置有测试DUT，测试DUT的一侧设置有测试平台。本实用新型具有提高测试平台的测试效率等有益效果。

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试系统，尤其是涉及一种基于chroma 3380P平台的128工位同测系统，属于芯片测试技术领域。

背景技术

近年来，3C产品功能不断增加且出奇创新，但零组件价格却急速递减。虽晶圆制造成本已不断降低，但要如何降低测试成本，同样是业界关注的重点。系统集成与整合是未来测试机台发展的方向，并应以高效益并具低成本为主。因此，提供多样化并具弹性架构及高同测功能(High Parallel Test)的测试装置或方案才能有效解决此问题。

目前chroma 3380p测试平台的电源通道为64个，数字通道为512个，由于某些被测芯片的I/0引脚较多，比如1个被测芯片有4个I/O引脚，那么512个数字通道就可用于同时测试128个被测芯片，但是电源通道只有64个，无法满足128个被测芯片同测的要求，因此，只能对64个具有4个I/O引脚的被测芯片进行测试，也就是要浪费部分数字通道的资源，测试64个被测芯片的测试效率也只有128个被测芯片同测的效率的60%左右，无法满足产能的需求，降低了测试效益。

实用新型内容

本实用新型主要是针对现有技术存在的上述问题，提供一种基于chroma 3380P平台的128工位同测系统，该系统可至少对128个工位同时进行供电，提高测试平台的测试效率。

本实用新型的目的主要是通过下述方案得以实现的：

一种基于chroma 3380P平台的128工位同测系统，包括机体，所述机体上设置有控制电脑，所述控制电脑包括主机和显示屏，所述主机位于机体底部的底箱内，所述显示屏位于机体的左侧，机体的内部设置有测试箱，所述测试箱的外侧设置有有机玻璃防护罩，测试箱内部设置有测试平台和DUT板组，所述机体的底部四角设置有支撑柱，机体的底部还设置有滑轮，所述滑轮位于支撑柱内侧，所述机体的前侧中间设置有开关，所述开关的上方设置有按钮，所述机体的顶部还设置有指示灯。

作为优选，所述测试箱内部还设有机械抓手，所述机械抓手通过支撑架设于测试箱底部，机械抓手的自由端上安装有机械夹，测试箱内部还设置有合格槽和不合格槽，所述合格槽和不合格槽分别位于机械抓手的两侧。

作为优选，所述机械夹的外侧设置有防滑橡胶层，且机械夹与防滑橡胶层通过嵌合的方式固定连接。

作为优选，所述显示屏的底部设置有固定杆，所述固定杆卡接在机体左侧上表面的卡槽内。

作为优选，所述指示灯的外侧圆周设置有透明保护罩，所述透明保护罩与机体通过焊塑的方式固定连接。

作为优选，所述测试平台采用chroma 3380p测试平台。

作为优选，所述测试平台的每个电源输出端均连接有通道选择器，所述通道选择器可将chroma 3380p测试平台的一个电源输出端转换为至少两个电源输出端，所述控制电脑的主机与通道选择器的受控端电连接，每两个所述通道选择器的输入端与chroma 3380p测试平台的同一个电源输出端电连接。

作为优选，所述通道选择器为单片机。

作为优选，所述通道选择器为继电器组。