[实用新型]一种适配器插回损测试工装

说明书

本实用新型涉及光通信技术领域，一种适配器插回损测试工装，与插回损测试仪配合使用，插回损测试仪上设有测试光纤，测试工装包括校准本体和测试本体，校准本体上设有测试光纤插孔、连通孔一、接口插孔一，测试本体上设有适配器插孔、连通孔二、接口插孔二，测试光纤插孔用于与测试光纤连接，接口插孔一和接口插孔二均用于与插回损测试仪上的测试接口连接，适配器插孔用于与待检测适配器连接。本实用新型能够保证适配器与测试插口的同轴度，从而保证测试的准确性，避免误测测试现象的发生，并且大大降低适配器插回损测试的工作难度，方便操作，提高了测试的工作效率、准确性和一致性，适用于适配器的大批量测试。

技术领域

本实用新型涉及光通信技术领域，尤其涉及一种适配器插回损测试工装。

背景技术

在适配器的加工制造中，需要使用插回损测试仪(参见图7)对适配器进行插回损测试，目前采用的方法是：将测试光纤接入插回损测试仪的光源输出接口，然后将测试光纤的另一端插入与功率探测器连接的测试接口，对测试光纤进行校正；校正后，将测试光纤从测试接口拔下，将待测试适配器插入测试光纤端部，最后将待测试适配器另一端部插入测试接口进行插回损测试即可。

整个测试过程中没有标准的连接工装，主要依靠测试人员的熟练度及经验来定位适配器、待测产品和插回损测试仪测试接口，稍有偏差就会影响测试结果，因此存在着测量数据偏差过大、测量数据不准确的弊端。由于待检测产品一端金属件的直径通常较小，一般为φD3.0mm，而适配器插回损要求准确度较高(一般插损控制在＜0.2dB，回损控制在＞45dB)，测试人员不易操作，容易出现偏差并导致误测，造成测试数据重复性和一致性差，影响产品插回损特性的正确判断。另外，在对适配器进行大批量测试时，现有的测试方式工作量大，测试效率低，严重影响适配器的加工进度。

实用新型内容

针对现有技术存在的技术问题，本实用新型提供了一种适配器插回损测试工装。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种适配器插回损测试工装，与插回损测试仪配合使用，所述插回损测试仪上设有测试光纤，所述测试工装包括校准本体和测试本体，所述校准本体上设有同轴且依次连通的测试光纤插孔、连通孔一、接口插孔一，所述测试本体上设有同轴且依次连通的适配器插孔、连通孔二、接口插孔二，所述测试光纤插孔用于与测试光纤连接，所述接口插孔一和接口插孔二均用于与插回损测试仪上的测试接口连接，所述适配器插孔用于与待检测适配器连接。

优选地，所述测试光纤插孔的内径与测试光纤的尺寸相匹配，所述接口插孔一与接口插孔二的内径一致且均与插回损测试仪上测试接口的外径相匹配，所述适配器插孔与待检测适配器的尺寸相匹配。

优选地，所述连通孔一的内径小于测试光纤插孔和接口插孔一的内径，所述连通孔二的内径小于适配器插孔和接口插孔二的内径。

优选地，所述测试接口上设有卡块，所述校准本体上设有卡槽一，所述卡槽一设于接口插孔一对应的校准本体部分并沿接口插孔一径向延伸；所述测试本体上设有卡槽二，所述卡槽二设于接口插孔二对应的测试本体部分并沿接口插孔二径向延伸，所述卡槽一和卡槽二均与卡块相匹配。

优选地，还包括套筒，所述套筒的外径与校准本体上测试光纤插孔的内径相匹配，所述套筒的内径与测试光纤的外径相匹配。

优选地，所述套筒上设有沿轴向延伸的切口。

优选地，所述套筒采用陶瓷材质。

本实用新型能够保证测试光纤或适配器与测试插口的同轴度，从而保证测试的准确性，避免误测现象的发生，并且大大降低了适配器插回损测试的工作难度，方便操作，提高了测试的工作效率、准确性、一致性，适用于适配器的大批量测试。

附图说明

图1是实施例1中校准本体与测试光纤连接的爆炸示意图。

图2是实施例1中校准本体的结构示意图。