[实用新型]一种基于非接触式PCB板的集成电路测试仪

权利要求书

1.一种基于非接触式PCB板的集成电路测试仪，包括检测框（2）、底板（6）和控制箱（19），其特征在于：所述底板（6）顶端的四周均固定连接有支撑柱（5），且支撑柱（5）的顶端固定连接有检测框（2），所述底板（6）顶端的中央位置处固定连接有贯穿检测框（2）的升降结构（7），且升降结构（7）的顶端固定连接与支撑板（9），所述支撑板（9）顶端的中间位置处开设有滑槽（11），且滑槽（11）内部的两端均套设有与滑槽（11）相匹配的滑板（10），所述滑板（10）的顶端固定连接有橡胶座（12），所述检测框（2）两侧的顶端均固定连接有支架（1），且支架（1）内侧的顶端固定连接有安装板（20），所述安装板（20）底端的中央位置处固定连接有控制箱（19），且控制箱（19）的正面设置有控制面板（18），所述控制箱（19）两侧的下端均活动铰接有铰接板（21），且控制箱（19）底端的两端均固定连接有安装结构（17），所述安装结构（17）之间卡设有检测探头（16）。

2.根据权利要求1所述的一种基于非接触式PCB板的集成电路测试仪，其特征在于：所述检测框（2）内部两侧的中间位置处均开设有滑道（4），且滑道（4）的内部通过与滑道（4）相匹配的滑块（3）与支撑板（9）固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种基于非接触式PCB板的集成电路测试仪，其特征在于：所述底板（6）底端的四周均安装有万向轮（8），且万向轮（8）的内部设置有制动结构。

4.根据权利要求1所述的一种基于非接触式PCB板的集成电路测试仪，其特征在于：所述升降结构（7）的内部依次设置有顶杆（701）、套管（702）、螺栓（703）和限位槽（704），所述套管（702）固定连接在底板（6）顶端的中央位置处，且套管（702）的内部套设有顶杆（701），所述套管（702）一侧的上端贯穿有螺栓（703），且螺栓（703）一侧的顶杆（701）侧壁对应均匀开设有限位槽（704）。

5.根据权利要求1所述的一种基于非接触式PCB板的集成电路测试仪，其特征在于：所述安装结构（17）的内部依次设置有卡杆（1701）、弹簧（1702）、挡板（1703）和安装柱（1704），所述安装柱（1704）固定连接在控制箱（19）底端的两端，且安装柱（1704）外侧的下端均贯穿有卡杆（1701），所述卡杆（1701）外壁的一端固定连接有挡板（1703），且挡板（1703）与安装柱（1704）之间固定连接有弹簧（1702），所述卡杆（1701）一侧的检测探头（16）两侧对应开设有卡槽（25）。

6.根据权利要求1所述的一种基于非接触式PCB板的集成电路测试仪，其特征在于：所述安装板（20）底端的两端均固定连接有风箱（22），且风箱（22）内部远离控制箱（19）的一侧固定连接有风机（24），所述风机（24）一侧的风箱（22）内部固定连接有过滤网（23），且过滤网（23）一侧的风箱（22）底端贯穿有落尘管（14），所述风箱（22）底端靠近落尘管（14）的一侧固定连接有集尘箱（13），且落尘管（14）的底端贯穿集尘箱（13）顶端，所述风箱（22）靠近控制箱（19）一侧的中间位置处贯穿有分流管（15）。