[实用新型]一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统有效
申请号: | 202021587562.8 | 申请日: | 2020-08-03 |
公开(公告)号: | CN212905168U | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 王宇;王天阳;王祥;魏一平 | 申请(专利权)人: | 无锡国芯微电子系统有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01V3/12;G01V13/00 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 过顾佳;聂启新 |
地址: | 214072 江苏省无锡市建筑西路*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 干涉仪 测向 天线 阵列 评估 验证 系统 | ||
本实用新型公开了一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统,涉及微波探测技术领域,该系统包括安装在转台上并连接水平和俯仰两个轴的干涉仪测向天线阵列,干涉仪测向天线阵列包括若干个沿着水平向设置以及俯仰向设置的天线单元,干涉仪测向天线阵列上的各个天线单元通过矩阵开关串联第二放大器接入矢量网络分析仪,矢量网络分析仪还通过第一放大器连接发射天线,发射天线与干涉仪测向天线阵列相对设置;矢量网络分析仪连接主控设备,主控设备连接并控制矩阵开关以及转台;该系统可以评估干涉仪测向天线阵列的测角正确性,有效的帮助前期天线方案的验证和后期系统问题的排查。
技术领域
本实用新型涉及微波探测技术领域,尤其是一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统。
背景技术
现有的天线普遍采用二维多基线相位干涉仪的测角原理进行目标搜索,实现目标方位角、俯仰角度信息的提取,在规定的频段和规定的视角范围内,天线单元的数量和适当的基线比对于干涉仪测向天线阵列的性能至关重要,因此如何高效准确的验证干涉仪测向天线阵列的排布方案的合理性以及性能成为当前需要考虑的问题。
实用新型内容
本发明人针对上述问题及技术需求,提出了一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统,本实用新型的技术方案如下:
一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统,该系统包括干涉仪测向天线阵列、矩阵开关、第一放大器、矢量网络分析仪、发射天线、第二放大器、主控设备以及转台;
干涉仪测向天线阵列包括若干个沿着水平向设置以及俯仰向设置的天线单元,转台包括相连接的水平转动连接轴和俯仰运动连接轴,干涉仪测向天线阵列设置在转台上并连接水平转动连接轴和俯仰运动连接轴;
干涉仪测向天线阵列上的各个天线单元通过矩阵开关串联第二放大器接入矢量网络分析仪,矢量网络分析仪还通过第一放大器连接发射天线,发射天线与干涉仪测向天线阵列相对设置;矢量网络分析仪连接主控设备,主控设备连接并控制矩阵开关以及转台。
其进一步的技术方案为,发射天线为多频段天线。
其进一步的技术方案为,系统还包括连接第一放大器、第二放大器和矩阵开关的电源。
本实用新型的有益技术效果是:
本申请公开了一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统,该系统利用转台带动干涉仪测向天线阵列转动至不同的测角位置,利用矢量网络分析仪通过发射天线和干涉仪测向天线阵列之间的信号发射接收路径结合现有计算方法可以确定角度,结合转台的位置即可以评估干涉仪测向天线阵列的测角正确性,有效的帮助前期天线方案的验证和后期系统问题的排查。
附图说明
图1是本申请公开的干涉仪测向天线阵列的评估验证系统的结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做进一步说明。
本申请公开了一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统,请参考图1,该系统包括干涉仪测向天线阵列1(该天线阵列为被测件)、矩阵开关2、第一放大器3、矢量网络分析仪4、发射天线5、第二放大器6、主控设备7以及转台8。
其中,干涉仪测向天线阵列1为基于干涉仪原理的天线阵列,其上的天线单元11的数量和排布方式可以根据实际情况配置,比如在本申请的图示中,其包括若干个沿着水平向设置以及俯仰向设置的天线单元11,水平向的天线单元11和俯仰向的天线单元11正交形成十字型结构并共用同一个天线单元,且每个方向的相邻天线单元11之间间隔预定距离,实际也可以正交形成L型结构等。比如在本申请中,如图1所示,干涉仪测向天线阵列1共包括7个天线单元11分别以标号①~⑦表示,其中包括水平向的4个天线单元以及俯仰向的4个天线单元,水平向和俯仰向共用标号3的天线单元。但在实际应用时,干涉仪测向天线阵列1可以采用其他的排列局部、具有其他的通道数量,本申请对此不做限定。
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