[实用新型]一种半导体器件测试分选设备

权利要求书

1.一种半导体器件测试分选设备，包括罩壳(1)和固定安插在罩壳(1)内部的横板(2)和设置在横板(2)下方的贯穿罩壳(1)安装的横梁(3)，其特征在于，所述横梁(3)外左右对称地滑动套接有两个套筒(4)，两个所述套筒(4)外均固定有滑移板(5)，两个所述滑移板(5)的末端均固定有夹定块(13)，且两个所述夹定块(13)的底部均开设有卡槽(14)，所述横梁(3)上对称设置有分别与两个滑移板(5)相匹配的弹性机构，且所述横板(2)上设置有与两个滑移板(5)相匹配的牵拉机构。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试分选设备，其特征在于，所述弹性机构包括伸缩杆(11)、弹簧(12)，所述伸缩杆(11)固定在横梁(3)上，所述伸缩杆(11)的端部与滑移板(5)的侧面相固接，所述弹簧(12)套设在伸缩杆(11)外。

3.根据权利要求2所述的一种半导体器件测试分选设备，其特征在于，所述弹簧(12)设为强力拉伸弹簧，所述弹簧(12)的一端与伸缩杆(11)的端部相固接，所述弹簧(12)的另一端与滑移板(5)的侧面相固接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试分选设备，其特征在于，所述牵拉机构包括驱动马达(8)、卷绳轮(9)和钢丝拉绳(10)，所述驱动马达(8)固定在横板(2)的顶部，所述卷绳轮(9)固定套接在驱动马达(8)的输出轴外，所述钢丝拉绳(10)的一端卷接在卷绳轮(9)外，所述钢丝拉绳(10)的另一端贯穿横板(2)后与滑移板(5)的侧壁相固定。

5.根据权利要求4所述的一种半导体器件测试分选设备，其特征在于，所述驱动马达(8)设为伺服马达或步进马达。

6.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试分选设备，其特征在于，所述横板(2)的底部开设有滚槽(7)，所述滑移板(5)的顶端通过销轴转动安装有活动设置在滚槽(7)内的滚轮(6)。