[实用新型]一种超薄型线阵图像传感器和位移检测装置有效

专利信息
申请号: 202021595772.1 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN212871099U 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 李里
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518108 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 超薄型 图像传感器 位移 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种超薄型线阵图像传感器,包括电路板(10)、线阵图像传感芯片(11)和自聚焦透镜阵列(12);E和F分别为所述自聚焦透镜阵列(12)光轴上的物点和对应的像点,A和B分别为EF与所述自聚焦透镜阵列(12)的物端面和像端面的交点,其特征在于,所述电路板(10)的安装面(101)与所述自聚焦透镜阵列(12)的光轴面相互平行,在靠近F点一侧的所述安装面(101)上装有所述线阵图像传感芯片(11);在BF光路中设有像平面反光镜(13),所述线阵图像传感芯片(11)的感光中心线、所述自聚焦透镜阵列(12)的光轴中心点连线和所述像平面反光镜(13)的反射面相互平行,一束光线沿BF射出,经所述像平面反光镜(13)的反射面的O点处形成反射光线OF’,所述线阵图像传感芯片(11)、所述自聚焦透镜阵列(12)和所述像平面反光镜(13)处在预设的空间位置,使得F’正好落在所述线阵图像传感芯片(11)的感光中心线上,并且OF等于OF’,所述自聚焦透镜阵列(12)在所述安装面(101)上的正投影超过一半的面积落在所述安装面(101)范围以内。

2.根据权利要求1所述的超薄型线阵图像传感器,其特征在于,在靠近E点一侧的所述安装面(101)上装有反射光源(16)。

3.根据权利要求2所述的超薄型线阵图像传感器,其特征在于,所述反射光源(16)为贴片发光二极管或发光导光条。

4.根据权利要求1至3任一项所述的超薄型线阵图像传感器,其特征在于,在AE光路中设有物平面反光镜(14),所述物平面反光镜(14)的反射面与所述自聚焦透镜阵列(12)的光轴中心点连线平行,一束光线沿AE射出,经所述物平面反光镜(14)的反射面的P点处形成远离所述安装面(101)方向的反射光线PE’,所述物平面反光镜(14)处在预设的空间位置,使得E’落在被扫描物上,并且E’为所述自聚焦透镜阵列(12)的一个物点。

5.根据权利要求1至3任一项所述的超薄型线阵图像传感器,其特征在于,在AE光路中设有物多面平面反光镜(15),所述物多面平面反光镜(15)包括至少两个反射面,所述物多面平面反光镜(15)的所有反射面沿所述自聚焦透镜阵列(12)的光轴中心点连线方向排列,所述物多面平面反光镜(15)的所有反射面与所述自聚焦透镜阵列(12)的光轴中心点连线平行,并且所述物多面平面反光镜(15)的各个反射面相互不平行;A’为所述自聚焦透镜阵列(12)的另一光轴线与所述物端面的交点,两束光线AP和A’P’沿所述自聚焦透镜阵列(12)的光轴线从所述物端面射出,经所述物多面平面反光镜(15)的其中两个反射面的P和P’点处形成远离所述安装面(101)方向的反射光线PE’和P’E”,所述物多面平面反光镜(15)处在预设的空间位置,使得E’和E”落在被扫描物上,E’和E”分别为所述自聚焦透镜阵列(12)的两个物点,并且所述E’和E”分别处在两条不同扫描线上。

6.根据权利要求2或权利要求3所述的超薄型线阵图像传感器,其特征在于,在AE光路中设有物平面反光镜(14),所述物平面反光镜(14)的反射面与所述自聚焦透镜阵列(12)的光轴中心点连线平行,一束光线沿AE射出,经所述物平面反光镜(14)的反射面的P点处形成远离所述安装面(101)方向的反射光线PE’,所述物平面反光镜(14)处在预设的空间位置,使得E’落在被扫描物上,并且E’为所述自聚焦透镜阵列(12)的一个物点,在所述反射光源(16)的光路中设有光源反射镜(17),所述反射光源(16)和所述光源反射镜(17)处在预设的空间位置,使得所述反射光源(16)的主光束经所述光源反射镜(17)反射到被扫描物上。

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