[实用新型]一种倒装LED芯粒测试装置有效

专利信息
申请号: 202021602299.5 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN212410031U 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 韦日文;杨应俊;刘振辉;王胜利 申请(专利权)人: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01R31/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 倒装 led 测试 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种倒装LED芯粒测试装置。一种倒装LED芯粒测试装置,倒装LED芯粒的发光侧粘附于蓝膜,所述倒装LED芯粒测试装置包括,设置有收光口的积分球,收光口设置有沿第一运动方向正对应倒装LED芯粒发光侧的玻璃载台;所述积分球通过线性驱动机构连接于机架,所述线性驱动机构能够带动积分球沿第一运动方向运动;电连接于测试机的测试探针安装于机架,所述测试探针沿第一运动方向正对应倒装LED芯粒的焊盘;粘附有倒装LED芯粒的蓝膜设置于积分球和测试探针之间;所述线性驱动机构使玻璃载台沿第一运动方向止抵于蓝膜粘附倒装LED芯粒的位置,并使倒装LED芯粒的焊盘止抵于测试探针。

技术领域

本实用新型涉及一种倒装LED芯粒测试装置。

背景技术

倒装LED芯粒为设置的焊盘侧背离发光侧。如图4,常规对倒装LED芯粒101进行光参数测试时,将整个粘附有倒装LED芯粒101的区域贴附于透光支撑部103,积分球20止抵于透光支撑部103而收光,完成对倒装LED芯粒101的测试。

然而,随着倒装LED芯粒101的区域越来越大,对应设置的透光支撑部103面积也越来越大,这对透光支撑部103平面度加工难度越来越大,以及透光支撑部103需要运动以实现不同芯粒达到积分球20的收光位置,测试效率低;同时,上述测试方式需要采用测试探针61能够升降运动的结构,结构复杂,测试效率低。

实用新型内容

为至少部分解决上述技术问题,本实用新型公开了一种倒装LED芯粒测试装置。

本实用新型的技术方案为:

一种倒装LED芯粒测试装置,倒装LED芯粒的发光侧粘附于蓝膜,所述倒装LED芯粒测试装置包括,

设置有收光口的积分球,收光口设置有沿第一运动方向正对应倒装LED芯粒发光侧的玻璃载台;所述积分球通过线性驱动机构连接于机架,所述线性驱动机构能够带动积分球沿第一运动方向运动;

电连接于测试机的测试探针安装于机架,所述测试探针沿第一运动方向正对应倒装LED芯粒的焊盘;

粘附有倒装LED芯粒的蓝膜设置于积分球和测试探针之间;所述线性驱动机构使玻璃载台沿第一运动方向止抵于蓝膜粘附倒装LED芯粒的位置,并使倒装LED芯粒的焊盘止抵于测试探针。

进一步的,所述第一运动方向垂直于蓝膜粘附倒装LED芯粒的平面。

进一步的,所述线性驱动机构包括,安装于机架的驱动部,以及连接于积分球的滑块滑槽结构;其中滑块连接于积分球,滑槽安装于机架,所述驱动部驱动滑块相对于滑槽运动。

进一步的,所述玻璃载台设置有真空吸附孔,用于将蓝膜吸附并贴合于玻璃载台。

进一步的,所述收光口设置有环绕台阶,玻璃载台连接于所述环绕台阶并遮盖所述收光口。

进一步的,所述环绕台阶设置有与真空吸附孔连通的真空环槽,所述真空环槽连通于真空气压泵。

进一步的,所述玻璃载台设置有真空吸附孔替换成吸附环槽连通导通孔结构。

进一步的,所述倒装LED芯粒替换成电极侧背离发光侧的元器件。

本实用新型的有益效果在于:测试过程中测试探针不需要运动,简化了测试方法;减轻了移动蓝膜的载荷,提升了测试效率和稳定性。

附图说明

图1为本实用新型积分球、蓝膜和测试探针相对位置关系示意图;

图2为倒装LED芯粒示意图;

图3为本实用新型倒装LED芯粒测试装置结构示意图;

图4为现有的倒装LED芯粒测试装置示意图;

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