[实用新型]一种芯片电容器检测设备

说明书

本实用新型属于芯片电容器测试领域，具体涉及一种芯片电容器检测设备，包括用于芯片电容器上料的上料装置，用于检测芯片电容器电性能的电性能检测装置，用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘，用于测试芯片电容器外观的外观检测装置，用于收纳传送检测合格的芯片电容器的合格品下料装置，用于收纳外观不良品的外观不良料盘，用于吸附抓取芯片电容器，并转动变换芯片电容器的工位的转盘传送装置；其中，上料装置、电性能检测装置、电性能不良品料盘、外观检测装置、合格品下料装置、外观不良料盘成圆形依次排列在转盘传送装置的外侧。

技术领域

本实用新型属于芯片电容器测试领域，具体涉及一种芯片电容器检测设备。

背景技术

芯片电容器在生产完成后，需要对其进行电性能检测、以及外观检测，现有的芯片电容器检测大多采用人工的方式。采用人工的缺点有：1、工作效率较低；2、人工成本费用较高。3、生产周期长。4、周转成本较高。5、能耗较高。6、人工检查标准一致性不高等。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种芯片电容器检测设备，以解决现有的人工检测芯片电容器导致的工作效率较低、成本费用较高、生产周期长、周转成本较高、能耗较高、检查标准一致性不高等问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种芯片电容器检测设备，包括用于芯片电容器上料的上料装置，用于检测芯片电容器电性能的电性能检测装置，用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘，用于测试芯片电容器外观的外观检测装置，用于收纳传送检测合格的芯片电容器的合格品下料装置，用于收纳外观不良品的外观不良料盘，用于吸附抓取芯片电容器，并转动变换芯片电容器的工位的转盘传送装置；其中，上料装置、电性能检测装置、电性能不良品料盘、外观检测装置、合格品下料装置、外观不良料盘成圆形依次排列在转盘传送装置的外侧。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述转盘传送装置包括：第一转盘，用于驱动第一转盘转动的第一转盘驱动机构，用于吸附抓取芯片电容器的第一导电吸嘴，用于调整第一导电吸嘴位置的第一位置调整机构，用于推动第一导电吸嘴向下运动的吸嘴气缸机构，以及为第一导电吸嘴提供弹性上升力的弹性上升机构；其中，所述第一位置调整机构设置在第一转盘上，所述吸嘴上下滑动的设置在第一位置调整机构上，所述弹性上升机构设置在第一导电吸嘴和第一位置调整机构之间，所述吸嘴气缸机构设置在第一转盘上方。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述第一位置调整机构包括第一吸嘴安装块、第一吸嘴调节块、第一调节螺杆组件、以及第二调节螺杆组件；所述第一吸嘴调节块沿第一方向滑动设置在第一转盘上，所述第一吸嘴安装块沿第二方向滑动设置在第一吸嘴调节块上，所述第一调节螺杆组件驱动第一吸嘴调节块沿第一方向滑动，所述第二调节螺杆组件驱动第一吸嘴安装块沿第二方向移动，所述第一导电吸嘴安装在第一吸嘴安装块上，所述第一方向与第二方向相互垂直；

所述弹性上升机构包括滑动穿设在第一吸嘴安装块上的吸嘴安装杆，套设在吸嘴安装杆上的第一压缩弹簧，滑动穿设在第一吸嘴安装块上且与吸嘴安装杆平行的导向杆，两端分别固定连接导向杆与吸嘴安装杆的连接块，以及套设在导向杆上第二压缩弹簧；所述第一导电吸嘴固定在吸嘴安装杆一端，所述第一压缩弹簧两端分别连接吸嘴安装杆的另一端和第一吸嘴安装块；所述第二压缩弹簧的两端分别连接第一吸嘴安装块和连接块。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述上料装置包括：用于放置料盒的第一料盒托盘，用于调整第一料盒托盘位置的第一XY移动平台，以及用第一料盒托盘定位的第一CCD相机组件，所述第一料盒托盘上设置有多个与料盒形状相适应的料盒槽。