[实用新型]一种瓷片检验机有效

专利信息
申请号: 202021622723.2 申请日: 2020-08-06
公开(公告)号: CN212378697U 公开(公告)日: 2021-01-19
发明(设计)人: 曾红武 申请(专利权)人: 广东职业技术学院
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/14
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 叶洁勇
地址: 528041 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 瓷片 检验
【说明书】:

实用新型公开一种瓷片检验机,包括:支架、瓷片传送带、自动跟踪相机、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第三激光位移传感器第四激光位移传感器和电脑;本实用新型通过自动跟踪相机拍摄获取瓷片的清晰图像,通过设于支架上部四角区域的四个激光位移传感器检测获取瓷片的尺寸信息,检测效率高,检测结果精确,同时自动化。

技术领域

本实用新型涉及瓷片检测技术领域,尤其涉及一种瓷片检验机。

背景技术

陶瓷是以天然粘土以及各种天然矿物为主要原料经过粉碎混炼、成型和煅烧制得的材料的各种制品,按材料分,可分为粗陶,细陶,炻器,半瓷器,以至瓷器,原料是从粗到精,坯体是从粗松多孔,逐步到达致密,烧结,烧成温度也是逐渐从低趋高,在瓷器的生产加工中,通常需要利用检测机对陶瓷尺寸、颜色、图案进行检测,挑出不合格的次品。

传统瓷片的质量检测通常都是通过普通相机对到达拍摄区域的瓷片进行拍摄,只能获取瓷片的图像数据,无法得到瓷片的其他参数,比如说尺寸或者颜色等等。使得在后期处理中,不能很好的判断出瓷片的质量问题。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

本实用新型的目的采用如下技术方案实现:一种瓷片检验机,包括:支架、瓷片传送带、自动跟踪相机、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、第三激光位移传感器、第四激光位移传感器和电脑;

所述瓷片传送带设于所述支架的下部并穿过所述支架;所述自动跟踪相机设于所述支架上部;所述第一激光位移传感器、所述第二激光位移传感器、所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器分别设于所述支架上部的四个角上且均朝向所述瓷片传送带的中间区域;所述电脑分别与所述自动跟踪相机、所述第一激光位移传感器、所述第二激光位移传感器、所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器连接。

作为上述技术方案的进一步改进,还包括瓷片烘箱,所述瓷片烘箱与所述瓷片传送带的末端连接。实现瓷片的下一步干燥处理。

作为上述技术方案的进一步改进,还包括LED灯,所述LED灯设于所述支架上部。使得获取的瓷片的图像更加清晰。

作为上述技术方案的进一步改进,所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器位于所述瓷片传送带的起点上方;所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器位于所述瓷片传送带的终点上方。实现对瓷片尺寸的获取。

作为上述技术方案的进一步改进,所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为钝角;所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为锐角。实现对瓷片尺寸的精确获取。

作为上述技术方案的进一步改进,所述第一激光位移传感器和所述第二激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为135度;所述第三激光位移传感器和所述第四激光位移传感器与所述瓷片传送带的传送方向的夹角为45度。实现对瓷片尺寸的精确获取。

本实用新型的有益效果是:本实用新型通过自动跟踪相机拍摄获取瓷片的清晰图像,通过设于支架上部四角区域的四个激光位移传感器检测获取瓷片的尺寸信息,检测效率高,检测结果精确,同时自动化。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:

图1是本实用新型提供的一种瓷片检验机的结构示意图。

具体实施方式

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