[实用新型]一种磁环高度和尺寸综合测量设备

权利要求书

1.一种磁环高度和尺寸综合测量设备，包括综合测量设备框架(1)、激光测距仪(2)、视觉测量仪(3)、待测平台(4)以及总控机箱(5)，其特征在于：所述综合测量设备框架(1)包括激光测距仪固定架(102)以及相机高度调节架(103)，所述激光测距仪(2)包括滑动电机(204)，所述激光测距仪固定架(102)一表面设有滑槽，所述滑动电机(204)一端与滑槽滑动配合，所述视觉测量仪(3)包括相机固定架(302)，所述相机固定架(302)一表面与相机高度调节架(103)通过螺纹螺孔连接，所述综合测量设备框架(1)下表面设有定位孔，所述待测平台(4)一表面与定位孔旋转配合，所述待测平台(4)包括传动履带(402)，所述总控机箱(5)包括旋转轴(502)，所述传动履带(402)一表面与旋转轴(502)滑动配合。

2.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述综合测量设备框架(1)还包括承载板(101)，所述视觉测量仪(3)安装于承载板(101)上表面，所述承载板(101)上表面设有定位槽，所述激光测距仪固定架(102)一端与定位槽连接。

3.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述激光测距仪(2)还包括激光测距仪本体、指示亮灯(201)、激光头(202)以及PLC线缆(203)，所述指示亮灯(201)安装于激光测距仪本体一表面，所述激光测距仪本体一表面与滑动电机(204)通过螺纹螺孔连接，所述PLC线缆(203)一端与激光测距仪本体连接，所述PLC线缆(203)另一端与指示亮灯(201)焊接。

4.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述视觉测量仪(3)包括视觉测量仪相机(301)以及相机固定架(302)，所述视觉测量仪相机(301)安装于相机固定架(302)一表面。

5.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述待测平台(4)还包括待测平台本体以及旋转平台(401)，若干所述待测平台本体均安装于旋转平台(401)上表面，所述传动履带(402)与旋转平台(401)一表面滑动配合。

6.根据权利要求1所述的一种磁环高度和尺寸综合测量设备，其特征在于：所述总控机箱(5)包括总控机箱本体以及集成电路板(501)，所述旋转轴(502)焊接于总控机箱本体一表面，所述集成电路板(501)安装于总控机箱(5)内部一表面。