[实用新型]一种计算机硬件耐用性能测试装置

说明书

本实用新型公开一种计算机硬件耐用性能测试装置，涉及计算机硬件测试领域。该计算机硬件耐用性能测试装置包括工作台，工作台固定连接有两个安装杆，两个安装杆通过第一滑动槽滑动连接有滑动架，滑动架通过第一螺纹杆螺纹连接有两个紧固块，滑动架通过第二滑槽滑动连接有滑动板，滑动板通过第二螺纹杆螺纹连接有一个紧固块，滑动板通过滑动孔滑动连接有检测杆，检测杆的下表面固定连接有光线发射管，检测杆的下表面固定连接有橡胶头，橡胶头的下表面开设有与光线发射管相接触的透光孔。该计算机硬件耐用性能测试装置具有能够根据键盘上不同类型按键的位置便于对检测杆进行位置调整的功能。

技术领域

本实用新型涉及计算机硬件测试技术领域，具体为一种计算机硬件耐用性能测试装置。

背景技术

计算机包括有多个硬件，比如鼠标键盘等，这些硬件有一定的使用寿命，即硬件的耐用性能，意为可按压或点击的最大次数，需要进行测试来确实使用寿命性能，因此需要一种计算机硬件耐用性能测试装置。

现有的计算机硬件耐用性能测试装置存在以下不足，部分现有的计算机硬件耐用性能测试装置是通过一个能够上下循环运动的测试杆按压键盘按键，但是键盘按键的形状大小不同(字母键和数字键的形状一样都为方形，而CAPS、SHIFT、ENTER以及SPACE的形状均为长条形)，这样使得不同按键的使用寿命性能具有一定的差异，需要对多种按键都进行测试，而部分现有的计算机硬件耐用性能测试装置对某个按键测试完成之后不便于调整到其他类型的按键位置，实用性不足，所以需要一种能够根据键盘上不同类型按键的位置便于对测试杆进行位置调整的计算机硬件耐用性能测试装置，针对现有技术的不足，本实用新型公开了一种计算机硬件耐用性能测试装置，以解决上述问题。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型公开了一种计算机硬件耐用性能测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种计算机硬件耐用性能测试装置，包括工作台，所述工作台的上表面通过连接杆固定连接有两个安装杆，所述安装杆的一侧均开设有第一滑动槽，两个所述安装杆通过第一滑动槽滑动连接有滑动架，所述滑动架的两端均固定连接有与第一滑动槽相接触的第一滑块，所述第一滑块远离滑动架的一侧均固定连接有第一螺纹杆，所述滑动架通过第一螺纹杆螺纹连接有两个紧固块；

所述滑动架的上表面开设有第二滑槽，所述滑动架通过第二滑槽滑动连接有滑动板，所述滑动板的上表面固定连接有第二滑块，所述第二滑块的上表面固定连接有第二螺纹杆，所述滑动板通过第二螺纹杆螺纹连接有一个紧固块；

所述滑动板的下表面固定连接有安装板，所述安装板的上表面开设有滑动孔，所述滑动板通过滑动孔滑动连接有检测杆，所述检测杆的下表面固定连接有光线发射管，所述检测杆的下表面固定连接有橡胶头，所述橡胶头的下表面开设有与光线发射管相接触的透光孔。

优选的，所述第一滑动槽均贯穿至安装杆的另一侧，两个所述第一滑块分别滑动连接在两个第一滑动槽内。

优选的，所述第二滑槽贯穿至滑动架的下表面，所述滑动板和第二螺纹杆均滑动连接在第二滑槽内。

优选的，两个所述第一螺纹杆的直径尺寸均与第二螺纹杆的直径尺寸相等，所述紧固块的一侧开设有与第一螺纹杆和第二螺纹杆相接触的螺纹孔，所述螺纹孔贯穿至紧固块的另一侧。

优选的，所述滑动孔贯穿至安装板的下表面，所述检测杆滑动连接在滑动孔内，所述透光孔贯穿至橡胶头的下表面。

优选的，所述滑动架的正面开设有与第二滑块相接触的第三滑槽，所述第三滑槽贯穿至滑动架的背面，所述第二滑块滑动连接在第三滑槽内。

优选的，所述第一滑块的高度均小于滑动架的高度，所述第二滑块的宽度大于滑动板的宽度。