[实用新型]一种键盘按键拉拔检测用拉钩结构有效
申请号: | 202021648703.2 | 申请日: | 2020-08-10 |
公开(公告)号: | CN212646064U | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 刘利刚;蒋海军 | 申请(专利权)人: | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00;G01N3/04;G01N3/02 |
代理公司: | 江苏昆成律师事务所 32281 | 代理人: | 刘尚轲 |
地址: | 215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 键盘 按键 拉拔 检测 拉钩 结构 | ||
本实用新型公开了一种键盘按键拉拔检测用拉钩结构,其包括安装支架与拉钩件;所述拉构件在受到横向撞击力时可顺着所述横向撞击力相对于所述安装支架发生相对活动。本实用新型通过设置受到横向撞击力后可脱离的且还可再次重复安装上的拉钩结构,当键盘中出现不合格的按键导致拉钩在移动过程中碰撞键帽时,拉钩件可直接从安装支架上完全脱离或部分脱离而不会发生损坏,并可以将脱离后的拉构件再次安装上去重复使用,大大提高了拉构件的重复使用率以及使用安全性,提高了检测效率。
【技术领域】
本实用新型属于按键检测技术领域,特别是涉及一种键盘按键拉拔检测用拉钩结构。
【背景技术】
键盘一般是由铝基板、线路板、剪刀支撑架和键帽组装而成的,目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有:1)来料不良,例如铝基板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良;2)装配不良,例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键帽弹力或拉拔力不足或没有弹力的主要原因,将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后,为了确保后续使用的可靠性,需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。
本申请人之前申请了一款通用性高的键帽拉拔测试装置,其专利申请号为201921536689.4,通过设置多个拉拔测试组件,每个拉拔测试组件包括一压力传感器、设置在压力传感器活动端的且用于拉拔键帽的拉拔块、驱动压力传感器整体上下频繁运动的音圈电机、以及驱动该音圈电机沿X或Y 轴方向移动的伺服电机,通过多个拉拔测试组件实现对一行的键帽进行拉拔力检测,大大提高了键帽安装检测效率。但在实际应用中,根据用户反馈情况,发现拉拔块上的钩子容易发生碰断或碰坏现象,拉拔块损耗严重。
经过本申请人分析,其钩子撞坏情况发生的主要原因是拉拔块在安装时存在安装误差,每次进行键帽检测时,钩子的实际位置与系统中认定的钩子位置实际上是存在偏差的,且由于键帽与键盘本体之间的高度缝隙非常小,钩子的一点点安装误差就容易造成钩子碰撞键帽本体而碰坏;另外,由于键帽安装不正确未被弹性支架支撑弹起,导致出现坍塌键帽出现,行业中将这种键帽称作为“死key”,“死key”的存在导致键帽与键盘本体之间的缝隙不够,从而钩子容易撞到“死key”本体而撞坏。
【实用新型内容】
本实用新型的主要目的在于提供一种键盘按键拉拔检测用拉钩结构,解决键盘按键拉拔测试过程中,拉钩容易被撞坏影响检测效率的技术问题。
本实用新型通过如下技术方案实现上述目的:一种键盘按键拉拔检测用拉钩结构,其包括安装支架与拉钩件;所述拉钩件在受到横向撞击力时可顺着所述横向撞击力相对于所述安装支架发生相对活动。
进一步的,所述拉钩件设置在所述安装支架的下表面,所述拉钩件的一端与所述安装支架通过一销轴铰接在一起,且另一端与所述安装支架磁性吸附在一起;所述安装支架对所述拉钩件的磁性吸力大于所述拉钩件检测键帽拉拔时所需的拉拔力。
进一步的,所述拉钩件磁性吸附设置所述安装支架的下表面;所述安装支架对所述拉钩件的磁性吸力大于所述拉钩件检测键帽拉拔时所需的拉拔力。
进一步的,所述安装支架的下表面设置有磁铁块。
进一步的,所述拉钩件包括可受磁铁块吸附的磁性材质固定块、安装在所述磁性材质固定块上的拉钩杆、位于所述拉钩杆底部且与所述拉钩杆为一体结构的拉钩。
进一步的,所述安装支架的下表面设置有对所述拉钩件进行限位的限位挡块。
进一步的,所述磁性材质固定块的一端与所述安装支架铰接在一起,且另一端通过一固定在所述安装支架上的磁铁块与所述安装支架磁吸在一起。
进一步的,所述磁性材质固定块上设置有与其中一个所述限位挡块配合实现防呆的安装防呆缺口。
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