[实用新型]一种半自动ICT测试治具有效

专利信息
申请号: 202021675858.5 申请日: 2020-08-12
公开(公告)号: CN212932699U 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 伍祥旭 申请(专利权)人: 深圳市月晶鑫电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半自动 ict 测试
【权利要求书】:

1.一种半自动ICT测试治具,包括治具本体(1),其特征在于:所述治具本体(1)的内壁开设有限位槽(2),所述限位槽(2)的内部活动连接有滑块(3),所述滑块(3)的边侧固定连接有套筒(4),所述套筒(4)的内壁活动连接有齿杆(5),所述齿杆(5)的底部固定连接有第一电机(6),所述套筒(4)的顶部固定连接有升降板(7),所述升降板(7)的底部活动连接有底盖(8),所述底盖(8)的内壁活动连接有放置板(9),所述放置板(9)的底部固定连接有弹簧(10),所述放置板(9)的内部固定连接有扭簧(11),所述扭簧(11)的内部活动连接有活动杆(12),所述活动杆(12)的外壁活动连接有夹板(13),所述底盖(8)的外壁活动连接有铰链(14),所述铰链(14)的一侧固定连接有上盖(15),所述上盖(15)的顶部固定连接有活动轴(16),所述活动轴(16)的外壁活动连接有牵引臂(17),所述牵引臂(17)的顶部活动连接有伸缩杆(18),所述伸缩杆(18)的外壁活动连接有限位框(19),所述伸缩杆(18)的端头处活动连接有第一连接杆(20),所述第一连接杆(20)的端头处活动连接有连接轴(21),所述连接轴(21)的外壁活动连接有第二连接杆(22),所述第二连接杆(22)的端头处固定连接有第二电机(23)。

2.根据权利要求1所述的一种半自动ICT测试治具,其特征在于:所述滑块(3)与限位槽(2)构成滑动结构,且滑块(3)关于套筒(4)的轴线对称设置有两个。

3.根据权利要求1所述的一种半自动ICT测试治具,其特征在于:所述升降板(7)与底盖(8)通过齿杆(5)构成升降结构,且升降板(7)与底盖(8)采用相互平行设置。

4.根据权利要求1所述的一种半自动ICT测试治具,其特征在于:所述放置板(9)与底盖(8)通过弹簧(10)构成弹性升降结构,且放置板(9)与底盖(8)紧密贴合。

5.根据权利要求1所述的一种半自动ICT测试治具,其特征在于:所述夹板(13)与放置板(9)通过扭簧(11)构成弹性旋转结构,且夹板(13)关于放置板(9)的轴线对称设置有两个。

6.根据权利要求1所述的一种半自动ICT测试治具,其特征在于:所述上盖(15)与伸缩杆(18)通过牵引臂(17)构成联动结构,且牵引臂(17)与上盖(15)通过活动轴(16)构成旋转结构。

7.根据权利要求1所述的一种半自动ICT测试治具,其特征在于:所述伸缩杆(18)与限位框(19)之间为卡合连接,且伸缩杆(18)与限位框(19)处同一水平面设置。

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