[实用新型]一种双芯片槽的芯片治具

说明书

本实用新型公开了一种双芯片槽的芯片治具，包括芯片固定装置包括翻盖压板和底板，翻盖压板的一端与底板的一端铰接，翻盖压板内侧的中部设有转动压板，转动压板上设有凸块，翻盖压板的另一端设有卡扣；底板内侧的中部设有弹性支板，弹性支板内凹形成芯片放置槽，芯片放置槽内设有探针，探针与芯片的引脚互相匹配，底板的另一端设有固定杆，底板的底部设有第一卡槽组，第一卡槽组对称设于底板底部的前后两端；本实用新型结构简单，易操作，通过芯片固定装置与转接板的正接或反接，便可对芯片的正面或反面进行检测，且设有两个芯片检测槽，减少检测工序，并降低芯片的耗损，有利于推广。

技术领域

本实用新型涉及半导体集成电路检测领域，更具体地说是一种双芯片槽的芯片治具。

背景技术

电子芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况选都需对电子芯片进行检测，通常情况下，检测治具包括设置检测电路的治具底板，治具底板上固定检测底座，治具底板上设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针；

检测时，将电子芯片放置在检测底座，检测探针对应接触到相应电子芯片的检测点，一般情况下，电子芯片的上端简单的压块压住芯片或翻盖压板压住芯片，但大部分检测底座的支板不具备弹性，对于不同厂商或者规格的电子芯片，其厚度以及引脚的长度往往不同，而现有的同一个检测治具的压夹厚度是相同的，造成容易出现在检测压紧时，检测治具的压板不能压靠闭合，或造成芯片及引脚的损坏；同时电子芯片在检测底座上容易错位，在电子芯片上端的受力不足容易造成某些部分不能与检测探针接触，导致检测结果不准确，且芯片通常需要检测两面，现有的检测是检测好一面后将芯片取出，翻面放入检测底座在闭合对另一面进行检测，由于芯片是比较精密的元器件，这样的操作容易造成引脚的损坏，增加生产成本。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种双芯片槽的芯片治具，通过设置两个芯片放置槽可同时对两个芯片进行检测，且通过芯片固定装置与转接板的正接或反接，便可对芯片的正面或反面进行检测，减少检测工序，并降低芯片的耗损。

为了实现本实用新型的目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种双芯片槽的芯片治具，其特征在于，包括芯片固定装置和转接板，所述芯片固定装置包括翻盖压板和底板，所述翻盖压板的一端与底板的一端铰接，所述翻盖压板内侧的中部设有转动压板，所述转动压板上设有凸块，所述翻盖压板的另一端设有卡扣；所述底板内侧的中部设有弹性支板，所述弹性支板内凹形成芯片放置槽，所述芯片放置槽内设有探针，探针与芯片的引脚互相匹配，所述底板的另一端设有固定杆，所述底板的底部设有第一卡槽组，所述第一卡槽组对称设于底板底部的前后两端；所述转接板上设有第二卡槽组，所述第二卡槽组与第一卡槽组为套嵌式设计，所述转接板的后端设有电源接口，所述转接板上还设有电压管理芯片和稳压管理芯片，所述电压管理芯片和稳压管理芯片位于第二卡槽组的后侧，所述电压管理芯片位于稳压管理芯片的左侧。

优选的，所述芯片放置槽设有两个，且为左右对称设计，所述放置槽与凸块配合使用，便于固定芯片。

优选的，所述转动压板可上下摆动，防止翻盖压板闭合时，凸块对芯片造成磨损。

优选的，所述芯片固定装置和转接板之间采用正接的方式，对芯片的正面进行检测，所述芯片固定装置和转接板之间采用反接的方式，对芯片的反面进行检测。

有益效果：结构简单，易操作，无需翻转芯片，通过芯片固定装置与转接板的正接或反接，便可对芯片的正面或反面进行检测，且设有两个芯片检测槽，减少检测工序，并降低芯片的耗损，有利于推广。

附图说明

图1：本实用新型一种双芯片槽的芯片治具的拆分结构示意图；

图2：本实用新型一种双芯片槽的芯片治具的拆分结构示意图；

图3：本实用新型一种双芯片槽的芯片治具的组合示意图；