[实用新型]激光光路调整校验大行程三坐标测量机精度的工装结构有效

专利信息
申请号: 202021736684.9 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN212843409U 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 佘刚;罗杰;王国栋 申请(专利权)人: 思瑞测量技术(深圳)有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙) 44482 代理人: 李绍飞
地址: 518000 广东省深圳市宝安区福永街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 激光 调整 校验 行程 坐标 测量 精度 工装 结构
【权利要求书】:

1.一种激光光路调整校验大行程三坐标测量机精度的工装结构,其特征在于:包括激光干涉仪、线性干涉镜、安装轴、固定柱、底板、螺钉和光路调整机构,所述激光干涉仪通过安装轴固定安装在底板上,所述线性干涉镜通过固定柱安装在底板上,所述光路调整机构通过螺钉固定安装在线性干涉镜上,所述线性干涉镜上设置与线性干涉镜相配合的光路调整机构。

2.根据权利要求1所述的激光光路调整校验大行程三坐标测量机精度的工装结构,其特征在于:该激光光路调整校验大行程三坐标测量机精度的工装结构还包括把手,所述底板包含一侧和另一侧,所述底板的一侧和另一侧分别固定设置把手。

3.根据权利要求2所述的激光光路调整校验大行程三坐标测量机精度的工装结构,其特征在于:所述把手的各个棱角分别设置圆弧过渡或倒角。

4.根据权利要求3所述的激光光路调整校验大行程三坐标测量机精度的工装结构,其特征在于:所述底板的各个棱角分别设置圆弧过渡或倒角。

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