[实用新型]深度测量模组及系统有效

专利信息
申请号: 202021788870.7 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN212341462U 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 陈展耀;郑祺;戴书麟;刘风雷 申请(专利权)人: 东莞埃科思科技有限公司
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S17/894;G01S7/484;G01S7/4865;G03B21/20
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 衡滔
地址: 523000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 深度 测量 模组 系统
【权利要求书】:

1.一种深度测量模组,其特征在于,包括:

投影模组,包括光源单元、第一光学结构、第二光学结构,所述光源单元包含第一发光模式和第二发光模式,所述光源单元基于所述第一发光模式发射的光线通过所述第一光学结构后向空间中投射第一画面,所述光源单元基于所述第二发光模式发射的光线通过所述第二光学结构后向空间中投射第二画面;

接收模组,包含第一接收模式和第二接收模式,所述接收模组用于基于所述第一接收模式接收所述第一画面,以实现对目标物的直接飞行时间测量,以及,所述接收模组还用于基于所述第二接收模式接收所述第二画面,以实现对目标物的间接飞行时间测量。

2.根据权利要求1所述的深度测量模组,其特征在于,所述光源单元包括VCSEL光源,且所述VCSEL光源与外部控制电路连接,

所述VCSEL光源用于在所述外部控制电路的控制下,发射预设脉宽的第一光信号,其中,所述VCSEL光源发射所述预设脉宽的第一光信号为所述第一发光模式;或者,

所述VCSEL光源用于在所述外部控制电路的控制下,发射预设调制频率的第二光信号,其中,所述VCSEL光源发射所述预设调制频率的第二光信号为所述第二发光模式。

3.根据权利要求2所述的深度测量模组,其特征在于,所述第一光学结构包括准直镜和衍射光学元件,

所述准直镜,用于对所述第一光信号进行准直;

所述衍射光学元件,用于基于准直后的第一光信号向空间中投射散斑图案,其中,所述散斑图案为所述第一画面。

4.根据权利要求2所述的深度测量模组,其特征在于,所述第二光学结构包括光学扩散片,

所述光学扩散片,用于对所述第二光信号进行匀光处理,以基于匀光处理后的第二光信号向空间中投射光学图案,所述光学图案为所述第二画面。

5.根据权利要求1所述的深度测量模组,其特征在于,所述光源单元包括设置在同一基板上的第一光源和第二光源,所述第一光源和所述第二光源分别与外部控制电路连接,

所述第一光源用于在所述外部控制电路的控制下,发射预设脉宽的第一光信号,其中,所述第一光源发射所述预设脉宽的第一光信号为所述第一发光模式;

所述第二光源用于在所述外部控制电路的控制下,发射预设调制频率的第二光信号,其中,所述第二光源发射所述预设调制频率的第二光信号为所述第二发光模式。

6.根据权利要求5所述的深度测量模组,其特征在于,所述第一光学结构包括第一准直镜和衍射光学元件,所述第二光学结构包括光学扩散片,

所述第一准直镜设置在所述第一光源的光路上,用于对所述第一光源发射的所述第一光信号进行准直,所述衍射光学元件设置在所述第一准直镜的前侧,用于基于准直后的第一光信号向空间中投射散斑图案,其中,所述前侧为所述准直镜远离所述第一光源的一侧,所述散斑图案为所述第一画面;

所述光学扩散片设置在所述第二光源的光路上,用于对所述第二光信号进行匀光处理,以基于匀光处理后的第二光信号向空间中投射光学图案,所述光学图案为所述第二画面。

7.根据权利要求6所述的深度测量模组,其特征在于,所述第二光学结构还包括第二准直镜,

所述第二准直镜设置于所述第二光源的光路上,且位于所述第二光源与所述光学扩散片之间,用于对所述第二光源发射的第二光信号进行收光,以使所述光学扩散片对收光后的第二光信号进行匀光处理,其中,所述收光表示减小光线的发散角。

8.根据权利要求7所述的深度测量模组,其特征在于,所述第一准直镜与所述第二准直镜一体化设计,所述衍射光学元件与所述光学扩散片一体化设计。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的深度测量模组,其特征在于,所述接收模组包括图像传感器,所述图像传感器与外部控制电路连接,用于在所述外部控制电路的控制下,接收所述第一画面以实现对目标物的直接飞行时间测量,或者,接收所述第二画面,以实现对目标物的间接飞行时间测量。

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