[实用新型]一种具有冷却功能的芯片老化测试装置

权利要求书

1.一种具有冷却功能的芯片老化测试装置，包括测试装置本体（1）、连接板（2）、固定板（3）和散热棒（4），其特征在于：所述测试装置本体（1）上开设有老化腔（11），所述测试装置本体（1）一侧固定连接有进水管（13），所述测试装置本体（1）远离所述进水管（13）的一侧固定连接有出水管（14），所述测试装置本体（1）内部开设有第一空腔（15），所述进水管（13）与所述第一空腔（15）连接，所述出水管（14）与所述第一空腔（15）连接；

所述测试装置本体（1）两侧可拆卸连接有连接板（2），所述连接板（2）远离所述测试装置本体（1）的一侧固定连接有若干个均匀分布的散热板（21）；

所述测试装置本体（1）一端可拆卸连接有固定板（3），所述固定板（3）上可拆卸连接有散热棒（4），所述散热棒（4）靠近所述固定板（3）的一端固定连接有导热板（41），所述导热板（41）与所述固定板（3）接触，所述散热棒（4）内部开设有第二空腔（45）。

2.根据权利要求1所述的一种具有冷却功能的芯片老化测试装置，其特征在于：所述测试装置本体（1）外壁均匀涂抹有防腐镀层（12），所述防腐镀层（12）的材质为油漆。

3.根据权利要求1所述的一种具有冷却功能的芯片老化测试装置，其特征在于：所述连接板（2）上设有连接螺栓（22），所述连接板（2）通过所述连接螺栓（22）与所述测试装置本体（1）螺接固定。

4.根据权利要求1所述的一种具有冷却功能的芯片老化测试装置，其特征在于：所述固定板（3）上设有固定螺栓（31），所述固定板（3）通过所述固定螺栓（31）与所述测试装置本体（1）螺接固定，所述导热板（41）靠近所述固定板（3）的一侧固定连接有固定螺纹杆（42），所述导热板（41）通过所述固定螺纹杆（42）与所述固定板（3）螺接固定。

5.根据权利要求1所述的一种具有冷却功能的芯片老化测试装置，其特征在于：所述散热棒（4）远离所述导热板（41）的一端可拆卸连接有密封盖（44），所述散热棒（4）远离所述导热板（41）的一端固定连接有空心螺纹杆（43），所述散热棒（4）通过所述空心螺纹杆（43）与所述密封盖（44）螺接固定。

6.根据权利要求1所述的一种具有冷却功能的芯片老化测试装置，其特征在于：所述连接板（2）与所述固定板（3）的材质为铝，所述散热棒（4）与所述导热板（41）的材质为铜。