[实用新型]一种信号完整性测试装置有效
申请号: | 202021806600.4 | 申请日: | 2020-08-25 |
公开(公告)号: | CN213041954U | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
发明(设计)人: | 肖光 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 远明 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 信号 完整性 测试 装置 | ||
1.一种信号完整性测试装置,其特征在于,包括:噪声信号发生器,操作校验器,与所述噪声信号发生器连接的噪声信号输出端,以及与所述操作校验器连接的第一操作信号端,其中,所述操作校验器包括操作控制器和数据校验器,所述数据校验器为信号完整性验证器。
2.根据权利要求1所述的信号完整性测试装置,其特征在于,所述测试装置为MCU。
3.根据权利要求1所述的信号完整性测试装置,其特征在于,还包括器件,所述器件包括第二操作信号端和测试信号端,所述第二操作信号端与所述第一操作信号端连接,所述测试信号端与所述噪声信号输出端连接。
4.根据权利要求3所述的信号完整性测试装置,其特征在于,所述器件为存储器。
5.根据权利要求1所述的信号完整性测试装置,其特征在于,所述噪声信号发生器包括时变数字信号发生器和与所述时变数字信号发生器的输出端连接的信号转换器,所述信号转换器的输出端连接所述噪声信号输出端。
6.根据权利要求5所述的信号完整性测试装置,其特征在于,所述信号转换器为数模转换器。
7.根据权利要求3所述的信号完整性测试装置,其特征在于,所述测试信号端为接地端。
8.根据权利要求4所述的信号完整性测试装置,其特征在于,所述存储器包括NorFlash、NAND Flash和Dram其中之一。
9.根据权利要求3所述的信号完整性测试装置,其特征在于,所述第一操作信号端和第二操作信号端为SPI。
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