[实用新型]一种便携式闩锁测试装置

说明书

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，且公开了一种便携式闩锁测试装置，包括便携式测试装置本体，所述便携式测试装置本体后端包括环形扣和感应灯，所述便携式测试装置本体前端包括感应器外壳和USB接口，所述便携式测试装置本体内部包括连接片、感应器和连接线，所述USB接口连接有测试头，所述测试头包括输入接口、点式测试杆。该便携式闩锁测试装置，通过便携式测试装置本体前端设置有USB接口，且在接口安装测试头，利用两种测试方式，能够解除测试接口的局限性的有益效果，通过在内部安装感应器，利用感应器连接感应灯，利用感应灯可肉眼直接观察进行测试的有益效果。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体为一种便携式闩锁测试装置。

背景技术

闩锁效应(Latch-upeffect)是影响集成电路的可靠度的一重要因素，因此集成电路在出厂前大多都会进行抗闩锁能力的测试。一般而言，集成电路的制造流程包括电路设计、芯片制造与芯片封装。此外，现有的闩锁测试方法是利用线性递增的触发脉冲，对在芯片封装阶段的集成电路进行闩锁测试。然而，由于触发脉冲是以线性方式逐渐递增，因此现有的闩锁测试方法往往必须耗费庞大的测试时间才能完成集成电路抗闩锁能力的测试。

此外，由于现有的闩锁测试装置不能够有效的便捷式使用，且对于不同接口的芯片没有办法进行直接测试。

发明内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种便携式闩锁测试装置，具备通过便捷式测试装置前端安装有两种，接口使得能够进行不同芯片的测试，且利用安装有感应灯使得可以肉眼进行观察测试结果等优点，解决了上述技术问题。

（二）技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种便携式闩锁测试装置，包括便携式测试装置本体，所述便携式测试装置本体后端包括环形扣和感应灯，所述便携式测试装置本体前端包括感应器外壳和USB接口，所述便携式测试装置本体内部包括连接片、感应器和连接线，所述USB接口连接有测试头，所述测试头包括输入接口和点式测试杆。

优选的，所述环形扣安装于便携式测试装置本体后端，且贯穿便携式测试装置本体顶部至底部。

通过上述技术方案，通过便携式测试装置本体后端安装有环形扣，利用环形扣可以便于扣接连接绳或锁扣，便于携带且不易弄丢。

优选的，所述感应灯安装于便携式测试装置本体顶部，且位于环形扣右侧，所述连接线末端连接于感应灯底部。

通过上述技术方案，通过在便携式测试装置本体顶部安装有感应灯，能够有效的观察该芯片内部是否闩锁，且感应灯顶部连接便携式测试装置本体内部的连接线。

优选的，所述感应器外壳安装在便携式装置本体前端，且内部设有感应器，所述感应器背部连接有连接线顶端。

通过上述技术方案，通过便携式测试装置本体前端安装有感应器外壳，使得内部感应器有效的保护，且风雨感应器为现有装置本专利不在赘述，利用连接线将感应灯与感应器进行连接。

优选的，所述USB接口安装于感应器外壳前端，所述连接片安装于USB接口内部。

通过上述技术方案，通过在感应器外壳前端安装有USB接口，且连接片安装于USB接口内部，利用USB接口进行连接芯片进行测试。

优选的，所述测试头背部连接于USB接口上，所述输入接口安装于测试头后端，所述点式测试杆安装于测试头前端。

通过上述技术方案，通过USB接口背部连接测试头，利用测试头，进行对没有安置USB接口的芯片进行测试，可分为两个接口，利用设有两个测试方式，可适用于多种芯片，解除了便携式测试装置本体的局限性。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种便携式闩锁测试装置，具备以下有益效果：