[实用新型]一种多通道的交流电源检测电路

权利要求书

1.一种多通道的交流电源检测电路，其特征在于，所述交流电源检测电路包括：交流数据采集电路、负载切换电路、单片机主控电路以及485通讯电路，所述交流数据采集电路分别连接所述负载切换电路、所述单片机主控电路，所述单片机主控电路连接所述485通讯电路。

2.根据权利要求1所述的一种多通道的交流电源检测电路，其特征在于，所述交流数据采集电路包括：P1接口、P2接口、P3接口、隔离光耦U1、隔离光耦U2、电阻R3、电阻R2，P1接口1与P2接口7连接，P1接口2与P3接口1连接，P3接口2与P2接口1连接，P2接口5连接GND端，隔离光耦U1原边回路包括隔离光耦U1原边与电阻R3，且隔离光耦U1原边正极通过电阻R3与VCC端连接，隔离光耦U1副边连接在电压源与RXD端之间，且隔离光耦U1副边RXD端与P2接口2连接；隔离光耦U2副边回路包括隔离光耦U2副边与电阻R2，隔离光耦U2副边、电阻依次连接在VCC端与GND端之间，隔离光耦U2原边连接在电压源与TXD端之间，且隔离光耦U2原边TXD端与P2接口3连接。

3.根据权利要求2所述的一种多通道的交流电源检测电路，其特征在于，所述负载切换电路包括：电阻R29、电阻R30、电阻R31、电阻R32、电阻R33、电阻R34、电阻R35、电阻R36、电阻R37、电阻R38、电阻R39、电阻R40、电阻R41、电阻R42、电阻R43、电阻R44、芯片U11、芯片U12、芯片U13、发光二极管D9、发光二极管D10、发光二极管D11、发光二极管D12、发光二极管D13、发光二极管D14、发光二极管D15、发光二极管D16、发光二极管D17、发光二极管D18、发光二极管D19、发光二极管D20、发光二极管D21、发光二极管D22、发光二极管D23、发光二极管D24；

电阻R29、发光二极管D15依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT18之间，电阻R30、发光二极管D16依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT17之间，电阻R31、发光二极管D9依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT16之间，电阻R32、发光二极管D10依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT15之间，电阻R33、发光二极管D11依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT14之间，电阻R34、发光二极管D12依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT13之间，电阻R35、发光二极管D13依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT12之间，电阻R36、发光二极管D14依次连接在+12V电压源与芯片U13引脚OUT11之间，芯片U13引脚COM10接12V电压源；

电阻R37、发光二极管D17依次连接在VCC端与芯片U11引脚1之间，电阻R38、发光二极管D18依次连接在VCC端与芯片U11引脚3之间，电阻R39、发光二极管D19依次连接在VCC端与芯片U11引脚5之间，电阻R40、发光二极管D20依次连接在VCC端与芯片U11引脚7之间；

电阻R41、发光二极管D21依次连接在VCC端与芯片U12引脚1之间，电阻R42、发光二极管D22依次连接在VCC端与芯片U12引脚3之间，电阻R43、发光二极管D23依次连接在VCC端与芯片U12引脚5之间，电阻R44、发光二极管D24依次连接在VCC端与芯片U12引脚7之间；

芯片U11引脚10、引脚12、引脚14、引脚16以及芯片U12引脚10、引脚12、引脚14、引脚16均连接+12电压源；

芯片U11引脚15连接芯片U13引脚IN1，芯片U11引脚13连接芯片U13引脚IN2，芯片U11引脚11连接芯片U13引脚IN3，芯片U11引脚9连接芯片U13引脚IN4；

芯片U12引脚15连接芯片U13引脚IN5，芯片U12引脚13连接芯片U13引脚IN6，芯片U12引脚13连接芯片U13引脚IN7。