[实用新型]阶梯式塞规检定装置有效

专利信息
申请号: 202021854306.0 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN212931219U 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 赫新宇 申请(专利权)人: 药临医疗技术服务(天津)有限公司
主分类号: G01B3/46 分类号: G01B3/46;G01B11/00
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人: 李文洋
地址: 300350 天津市津南区双港镇双港工*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 阶梯 塞规 检定 装置
【说明书】:

实用新型涉及仪器设备检测技术领域,尤其涉及一种阶梯式塞规检定装置,包括底座、龙门支架、塞规支撑座、CCD相机以及相机支架;所述龙门支架固定在所述底座上,龙门支架的内侧固定有两根连接柱,所述相机支架通过紧固套固定在所述连接柱上,所述CCD相机为四个,分为两组,每组两个CCD相机上下相对设置在所述相机支架上,所述塞规支撑座为两块,位于龙门支架的前侧并固定在底座上。本装置结构简单,通过四个CCD相机能够快速的对塞规的大小端进行测量检定,检定速度快,工作效率高。

技术领域

本实用新型涉及仪器设备检测技术领域,尤其涉及一种阶梯式塞规检定装置。

背景技术

在机械零件的制造和检验行业中,塞规通常用于对零部件上精度要求高的孔的内径进行检验,通过简单的操作,便能够快速准确的判断出被检验孔的孔径是否符合设计要求。目前通用塞规的外形上看一般为圆柱体,中间部分(有防滑滚花)为手柄,两端凸起部位用于检验,分别以通端和止端命名。通常被检验孔的公差较小,因此用肉眼从两端的大小上不易区分出通端和止端。塞规在使用一段时间后与测量件之间相互作用会形成一定的磨损,导致后续测量不准,所以需要隔一段时间对其进行检定,对于一般圆柱塞规只需要通过卡尺测量几次外径即可,但对于阶梯型的塞规,需要先测量小端头的直径再测量大端的直径,计算出二者之间的测量差,从而判断是否合格,这种方式比较慢,测量不够精确。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服上述技术的不足,而提供一种阶梯式塞规检定装置。

本实用新型为实现上述目的,采用以下技术方案:一种阶梯式塞规检定装置,其特征在于:包括底座、龙门支架、塞规支撑座、CCD相机以及相机支架;所述龙门支架固定在所述底座上,龙门支架的内侧固定有两根连接柱,所述相机支架通过紧固套固定在所述连接柱上,所述CCD相机为四个,分为两组,每组两个CCD相机上下相对设置在所述相机支架上,所述塞规支撑座为两块,位于龙门支架的前侧并固定在底座上。

优选地,所述相机支架上带有调节孔。

本实用新型的有益效果是:相对于现有技术,本装置结构简单,通过四个 CCD相机能够快速的对塞规的大小端进行测量检定,检定速度快,工作效率高。

附图说明

图1是本实用新型的主视图;

图2是本实用新型的侧视图;

图3是本实用新型的使用状态图。

具体实施方式

为了便于描述,在这里可以使用空间相对术语,如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等,用来描述如在图中所示的一个器或特征与其他器或特征的空间位置关系。应当理解的是,空间相对术语旨在包含除了器在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如,如果附图中的器被倒置,则描述为“在其他器或构造上方”或“在其他器或构造之上”的器之后将被定位为“在其他器或构造下方”或“在其他器或构造之下”。因而,示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位),并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

如图1和图2所示,一种阶梯式塞规检定装置,包括底座1、龙门支架2、塞规支撑座3、CCD相机4以及相机支架5;所述龙门支架固定在所述底座上,龙门支架的内侧固定有两根连接柱6,所述相机支架通过紧固套固定在所述连接柱上,所述CCD相机为四个,分为两组,每组两个CCD相机上下相对设置在所述相机支架上,所述塞规支撑座为两块,位于龙门支架的前侧并固定在底座上。为了便于调节CCD相机的高度,所述相机支架上带有调节孔。

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