[实用新型]测定液晶基板玻璃配合料均匀度的取样装置

说明书

本实用新型公开了测定液晶基板玻璃配合料均匀度的取样装置，包括第一取样夹持臂组件，所述第一取样夹持臂组件通过销轴交叉转动设置有第二取样夹持臂组件，所述第一取样夹持臂组件和第二取样夹持臂组件的顶部贯穿式滑动设置有两组顶紧组件，在自然状态下，通过顶紧组件的顶紧，第一取样夹持臂组件上的第一尖嘴取样勺和第二取样夹持臂组件上的第二尖嘴取样勺处于一个闭合状态，在取料罐内不同深度物料时，用力向下按动第一手握柄和第二手握柄，到合适位置后，向内挤压第一手握柄和第二手握柄，使第一尖嘴取样勺和第二尖嘴取样勺张嘴夹取即可，通过第一破碎齿和第二破碎齿的转动，对硬化的料进行破碎松化，方便后续的取料过程。

技术领域

本实用新型属于玻璃配合料均匀度分析技术领域，具体涉及测定液晶基板玻璃配合料均匀度的取样装置。

背景技术

玻璃配合料的均匀度是控制玻璃质量的关键第一步，以往普通的玻璃均匀度实际上是通过测定玻璃配合料中纯碱(碳酸钠)的含量来检测的，常用的测试方法是容量法酸碱滴定测定碳酸钠的含量，用电导率法测定配合料的电导率值，计算碳酸钠的含量，从而得到均匀度值，从目前TFT-LCD液晶基板玻璃配合料组成的原料种类来看，无碱玻璃基本属于RO-SiO2-Al2O3和 RO-SiO2-Al2O3-B2O3系列，而且以RO-SiO2-Al2O3-B2O3系列为主，主要组成为石英粉、氧化铝、硼酸及碱土金属盐类或氧化物(即不含钾、钠)的硅铝硼系特殊玻璃，其均匀度测定不能用此法，为了检测配合料是否混合均匀，现有技术多是采用X射线荧光荧光分析法来测定TFT液晶基板玻璃配合料的均匀度，此方法简便快速，能准确反应配合料的均匀度。

现有技术存在以下问题：用X射线荧光荧光分析法来快速测定TFT液晶基板玻璃配合料均匀度的方法，首先将TFT液晶基板玻璃配合料用各种原材料(氧化铝粉、硼酸、碳酸镁、碳酸钙、硝酸锶、硝酸钡等)按配方比例加入混料系统、按照混料程序进行充分混合10分钟，将混合料收入料罐，在上述混合好的料罐中个不同部位随机取样15个，每个点取样150g左右，置于干净的取样袋中，由于要取不同位置和不同深度料罐内的样品，缺乏一种方便使用，且通用性强的取样装置，不利于不同位置和不同深度料罐内样品的取样作业。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了测定液晶基板玻璃配合料均匀度的取样装置，具有方便使用，且通用性强的特点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：测定液晶基板玻璃配合料均匀度的取样装置，包括第一取样夹持臂组件，所述第一取样夹持臂组件通过销轴交叉转动设置有第二取样夹持臂组件，所述第一取样夹持臂组件和第二取样夹持臂组件的顶部贯穿式滑动设置有两组顶紧组件；

所述第一取样夹持臂组件包括第一取样夹持臂杆，所述第一取样夹持臂杆的顶部固定设置有第一手持臂杆，且第一取样夹持臂杆的底部固定设置有第一尖嘴取样勺，所述第一尖嘴取样勺的外侧面上固定设置有第一破碎齿，所述第一手持臂杆的顶部固定设置有第一手握柄，且第一手持臂杆上开设有两个第一导向横槽，所述第一取样夹持臂杆的中部固定设置有中空臂杆，所述中空臂杆上开设有中空横槽；

所述第二取样夹持臂组件包括第二取样夹持臂杆，所述第二取样夹持臂杆的顶部固定设置有第二手持臂杆，且第二取样夹持臂杆的底部固定设置有第二尖嘴取样勺，所述第二尖嘴取样勺的外侧面上固定设置有第二破碎齿，所述第二手持臂杆的顶部固定设置有第二手握柄，且第二手持臂杆上开设有两个第二导向横槽；

所述顶紧组件包括顶紧杆，所述顶紧杆的两端均固定设置有限位盘，且顶紧杆上套设有顶紧弹簧；

所述第二取样夹持臂组件和第一取样夹持臂组件装配使用时，所述第二取样夹持臂杆的中部杆体通过中空横槽贯穿于中空臂杆的中部杆体，且中空臂杆和第二取样夹持臂杆的中部杆体上均开设有与销轴转动配合的销孔；