[实用新型]一种折射率测量装置

说明书

本发明提供一种折射率测量装置，包括底座、测量载台、固定平台和测量模块，其特征在于，所述测量载台和固定平台固定的设置在底座上，且位于同一直线上，所述测量模块通过竖杆活动的设置在所述固定平台上，所述固定平台内安装有转轴，所述竖杆设置在所述转轴上，并可随所述转轴进行转动，所述固定平台上还固定的设置有角度编码器，用于记录竖杆转动的角度。本装置通过采用反射手段进行折射率测量，解决了测量样品形态的问题，对固体或液体样品表面均可进行折射率测量，而且想要获得该材料对应不同波长的折射率参数，只需要更换光源，重新调整竖杆摆动位置获取新的临界角角度，即可准确、快速获得折射率参数。

技术领域

本发明属于光学检测装置，尤其涉及一种折射率测量装置。

背景技术

半导体激光器具有定向性，光束的发散角度极小，接近平行，且单色性好，相比LED单色光源，激光器光源光谱覆盖范围小于1nm，而LED单色光源目前可以做到的极限光谱覆盖范围也在15～30nm。在折射率测试系统中，每一种波长的光都会对应形成一个临界角，且每一临界角角度不同，当光源的单色性不够好时，我们在观察屏上难以准确判断其临界角对应光斑，进而我们也就无法准确计算出样品对应波长的折射率大小。

传统折射率测试系统中采用偏向角法、自准直法、以及临界角法，通过观察光入射及出射光路径，计算入射角和折射角正弦值之比，获得光透过样品的折射率，但是目前技术相对仅能测试固体透明制品，如液体测试起来非常麻烦。

发明内容

鉴于以上，本发明提供一种折射率测量装置，通过采用反射手段进行折射率测量，解决了测量样品形态的问题，对固体或液体样品表面均可进行折射率测量，而且想要获得该材料对应不同波长的折射率参数，只需要更换光源，重新调整竖杆摆动位置获取新的临界角角度，即可准确、快速获得折射率参数。本发明具体技术方案如下：

一种折射率测量装置，包括底座、测量载台、固定平台和测量模块，其特征在于，所述测量载台和固定平台固定的设置在底座上，且位于同一直线上，所述测量模块通过竖杆活动的设置在所述固定平台上，所述固定平台内安装有转轴，所述竖杆设置在所述转轴上，并可随所述转轴进行转动，所述固定平台上还固定的设置有角度编码器，用于记录竖杆转动的角度。

进一步，所述测量模块包括激光器和偏振组件，所述激光器通过激光固定支架固定的设置在所述竖杆的上方，所述偏振组件通过偏振支架固定的设置在所述竖杆上，且位于所述激光固定支架下方，所述激光器中心、所述偏振组件中心与所述测量载台中心连线位于同一竖直线上。

进一步，所述测量载台高度可调节，在竖直方向进行升降运动。

进一步，所述底座上还设置有显示屏，位于所述测量载台和固定平台的一侧，并与其平行。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

图1为本发明折射率测量装置的一种实施例立体结构示意图，其中未包含显示屏；

图2为本发明折射率测量装置的一种实施例侧面结构示意图，其中未包含显示屏；

图3为本发明折射率测量装置竖杆转动位置的一种实施例正面结构示意图，其中包含显示屏；

图4为本发明折射率测量装置的其他实施例正面结构示意图；

其中，1为底座，2为固定平台，3为测量载台，4为转轴，5为竖杆，6为角度编码器，7为激光固定支架，8为偏振支架，9为激光器，10为偏振组件，11为样品，12为显示屏，13为转动杆，14为光电探测器。

具体实施方式