[实用新型]一种公安检查系统用成像测试装置有效
申请号: | 202021862007.1 | 申请日: | 2020-08-31 |
公开(公告)号: | CN213482100U | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 张洋;张韶华;兰治霖;曹广波;杨艾军;赵洪一;王浩军 | 申请(专利权)人: | 苏州曼德克光电有限公司 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 公安 检查 系统 成像 测试 装置 | ||
1.一种公安检查系统用成像测试装置,其特征在于:包括支撑架、相对设置的X射线发生器和探测器单元,网络交换机、开光控制单元和工控机,所述的探测器单元包括若干个从上至下顺次安装在支撑架上待测试的探测器;所述的支撑架在竖直方向上被分隔为若干个放置所述探测器的分隔区;
所述工控机与所述网络交换机相连,通过网络交换机发送控制信号并接受采集信号;
开关控制单元包括若干个与所述的探测器一对一相连的控制开关,根据接收信号开启对应的连通或断开探测器的电源;
所述网络交换机设有与所述工控机和所述控制开关相连的网络接口,用于连通工控机与对应控制开关之间的网络通路,并传送信号。
2.根据权利要求1所述的一种公安检查系统用成像测试装置,其特征在于:所述的探测器包括控制芯片和硅光二极管,所述的控制芯片采用的是FPGA,所述的硅光二极管采用耦合封装工艺对多像素Si光电二极管阵列进行的组合封装,高低能配合使用。
3.根据权利要求1所述的一种公安检查系统用成像测试装置,其特征在于:所述的探测器根据探测能量光波的大小按从大到小的顺序至上而下的设置。
4.根据权利要求1所述的一种公安检查系统用成像测试装置,其特征在于:所述探测器的探测口与所述X射线发生器的出射口相对设置。
5.根据权利要求1或4所述的一种公安检查系统用成像测试装置,其特征在于:所述的X射线发生器安装在水平地面上。
6.根据权利要求1所述一种公安检查系统用成像测试装置,其特征在于:所述的开关控制单元还包括若干个与所述的X射线发生器相连的控制开关。
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