[实用新型]一种用于芯片检测的吸附台

说明书

本实用新型公开了一种用于芯片检测的吸附台，包括底座，所述底座的顶部设有对称设置的两个滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆，所述螺杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮，所述旋钮的一端滑动插设有卡杆，所述底座的外壁上环绕设有与卡杆对应的多个卡槽，所述螺杆上螺纹套接有滑块，所述滑槽内固定连接有滑杆，所述滑块上设有与滑杆对应的滑口，所述滑块的顶部固定连接有放置板，所述放置板上设有多个吸附口。本实用新型中通过调节机构的设置，使吸附机构可以进行自由调节，从而提出了芯片的检测效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种用于芯片检测的吸附台。

背景技术

目前，集成电路制造业飞速发展，芯片使用越来越广泛，所以对芯片性能的测试也越来越重要。

但是现有的芯片检测用吸附台组成结构较为简单，吸附台无法根据芯片的尺寸进行自由的调节，从而影响芯片的检测效率。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中芯片检测用吸附台组成结构较为简单，吸附台无法根据芯片尺寸进行自由的调节的问题，而提出的一种用于芯片检测的吸附台。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种用于芯片检测的吸附台，包括底座，所述底座的顶部设有对称设置的两个滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆，所述螺杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮，所述旋钮的一端滑动插设有卡杆，所述底座的外壁上环绕设有与卡杆对应的多个卡槽，所述螺杆上螺纹套接有滑块，所述滑槽内固定连接有滑杆，所述滑块上设有与滑杆对应的滑口，所述滑块的顶部固定连接有放置板，所述放置板上设有多个吸附口。

优选地，所述底座的底部固定连接有多个锁紧块，所述锁紧块上设有锁紧口。

优选地，所述卡杆靠近底座的一端固定套接有卡套，所述卡杆远离卡套的一端固定连接有拉杆。

优选地，所述卡杆上套设有弹簧，所述弹簧的两端分别与卡套和旋钮固定连接。

优选地，所述滑口内滑动连接有多个钢珠，所述钢珠的边缘与滑杆相接触。

优选地，两个所述滑块相对的一侧均固定连接有安装板，所述安装板的顶部设有安装槽。

有益效果：

1.通过转动旋钮带动螺杆转动，通过滑块带动放置板移动，调节两个放置板之间的距离，然后利用卡杆固定住旋钮，然后通过吸附孔将芯片固定在放置板上，本实用新型中通过调节机构的设置，使吸附机构可以进行自由调节，从而提出了芯片的检测效率；

2.同时弹簧可以对卡杆起到一定的弹性支撑作用，锁紧块可以方便对底座进行固定，钢珠可以减小滑块和滑杆之间的摩擦力，同时放置板可以方便放置吸附机构。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种用于芯片检测的吸附台的结构示意图；

图2为图1的A处结构示意图。

图中：1底座、2螺杆、3旋钮、4卡杆、5滑块、6滑杆、7放置板、8锁紧块、9卡套、10拉杆、11弹簧、12钢珠、13安装板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-2，一种用于芯片检测的吸附台，包括底座1，底座1的底部固定连接有多个锁紧块8，锁紧块8上设有锁紧口，方便固定底座1，底座1的顶部设有对称设置的两个滑槽，滑槽内转动连接有螺杆2，用于带动滑块5移动，螺杆2的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮3，用于转动螺杆2；