[实用新型]一种半导体激光器的光斑发散角测试系统有效
申请号: | 202021879859.1 | 申请日: | 2020-08-31 |
公开(公告)号: | CN212391198U | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 侯长春;王兴辉;张文广 | 申请(专利权)人: | 中久光电产业有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01J1/42;H01S5/00 |
代理公司: | 南昌贤达专利代理事务所(普通合伙) 36136 | 代理人: | 金一娴 |
地址: | 330000 江西省南昌市临空经济区*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体激光器 光斑 发散 测试 系统 | ||
1.一种半导体激光器的光斑发散角测试系统,其特征在于:包括:
承载件(10),其用于承载半导体激光器(1),半导体激光器(1)的输出端连接有光纤(2);
调节装置(3),其上设置有一夹持器(5),所述夹持器(5)用于夹紧或松开所述光纤(2),所述调节装置(3)能够驱动所述夹持器(5)移动;
第一升降装置(9),其用于驱动所述调节装置(3)的升降动作;
光功率测试组件,其上设置有光阑(6),光阑(6)与所述光纤(2)同心设置以使其能够接收全光斑发散角下的光斑能量;
第二升降装置(8),其用于驱动所述光功率测试组件的升降动作;
还包括光纤位置标定装置(4)和与其连接的显示屏,所述光纤位置标定装置(4)用于获取光纤(2)的位置信息,所述显示屏用于显示所述光纤(2)的位置信息。
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器的光斑发散角测试系统,其特征在于:所述光纤位置标定装置(4)为工业高倍显微镜。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器的光斑发散角测试系统,其特征在于:所述调节装置(3)包括第一定位板(301)、第二定位板(303)、第一调节螺母(302)和第二调节螺母(304),所述第一定位板(301)的一端设置有第一定位块,所述第一调节螺母(302)穿过所述第一定位块能够与所述第二定位板(303)相抵接,拧紧第一调节螺母(302)时,第一调节螺母(302)能够驱动所述第二定位板(303)在第一定位板(301)上向右移动,所述第二定位板(303)上设置有第二定位块,所述第二调节螺母(304)穿过所述第二定位块能够与所述夹持器(5)相抵接,拧紧第二调节螺母(304)时,第二调节螺母(304)能够驱动所述夹持器(5)在第二定位板(303)上向前移动。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器的光斑发散角测试系统,其特征在于:所述光功率测试组件为光功率计。
5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器的光斑发散角测试系统,其特征在于:所述夹持器(5)包括底座(501),底座(501)上设置有一能够让光纤(2)通过的凹槽(503),所述底座(501)上铰接有一紧固块(502),所述紧固块(502)上设置有与所述凹槽(503)匹配的卡块。
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