[实用新型]表贴式环行器测试装置

说明书

本实用新型公开了表贴式环行器测试装置，用于测试表贴式环行器，其包括测试基板，所述测试基板上设有传输线，所述测试基板上设有与所述传输线导通的POGO PIN，所述表贴式环行器的PIN针组件位于所述POGO PIN的上方并抵触导通所述POGO PIN。通过POGO PIN让传输线和表贴式环行器的PIN针组件实现良好接触，有利于微波信号的良好传输，从而得到更加准确的参数测试结果；由于PIN针组件和传输线接触不良而导致的返工频率大大减少，并且取消压脚、测试平面度和检验平面度等工序，缩短了表贴式环行器的制造时间，利于提高表贴式环行器的生产效率，使得表贴式环行器能够实现大规模生产，降低表贴式环行器的生产成本。

技术领域

本实用新型涉及通信器材性能测试设备技术领域，尤其涉及表贴式环行器测试装置。

背景技术

表贴式环行器的原理和普通环行器原理相同，是一种单向传输，反向隔离的三端口器件；和普通环行器不同的是，表贴式环行器基本不带连接器，使用时多数也是直接焊接使用。

现有的表贴式环行器的腔体为半开放式腔体，其周壁具有三个开槽，三个PIN针组件从腔体的槽中伸出，PIN针组件底部和腔体底面相平。传统手动/自动测试时，测试工装都是以PCB板为测试基板，将表贴式环行器器件放到测试基板上，用一个压头压住表贴式环行器顶部或者外壳，此时三个PIN针组件的底面与测试基板上的焊盘分别贴合，微波信号从信号线传输到测试基板上，再通过所述焊盘传输到PIN针组件上，进入环行器。这种测试方法和工装对表贴式环行器的PIN针组件和表贴式环行器底部的平面度要求非常高，需要保证PIN针组件与测试基板的所述焊盘间连接良好，才能保证微波信号的传输顺畅。如果PIN针组件与测试基板上的所述焊盘接触不良，会导致环行器测试结果变差。因此在测试之前，需要设定压脚工序(使所有PIN针组件中的PIN针的顶点位于同一平面)、检验平面度工序和测试平面度工序，以及配套的工装、仪器和设备等。在反复测试流转中，PIN针组件的微小位移也会导致与所述焊盘接触不良，影响测试效果，需要要将产品压脚返工，严重影响了生产效率，增大了投入成本。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种能够提高生产效率的表贴式环行器测试装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：表贴式环行器测试装置，用于测试表贴式环行器，其包括测试基板，所述测试基板上设有传输线，所述测试基板上设有与所述传输线导通的POGO PIN，所述表贴式环行器的PIN针组件位于所述POGO PIN的上方并抵触导通所述POGO PIN。

进一步的，所述测试基板上设有盲孔，所述POGO PIN设于所述盲孔中且所述POGOPIN的顶部伸出所述盲孔。

进一步的，所述传输线的一部分位于所述盲孔内；或者，所述盲孔内设有焊锡，所述焊锡导通所述传输线与所述POGO PIN。

进一步的，所述传输线为微带线。

进一步的，还包括接地底座，所述测试基板设于所述接地底座上，所述测试基板的表面设有接地区，所述表贴式环行器的腔体对应设于所述接地区内，所述测试基板上还设有导通所述接地区与所述接地底座的导通结构，所述表贴式环行器的腔体通过所述导通结构与所述接地底座导通。

进一步的，所述导通结构为金属化孔或导电插销。

进一步的，所述接地底座的顶面具有朝上凸出的限位凸部，所述测试基板上设有与所述限位凸部相配合的限位槽。

进一步的，所述接地底座的材质为铜。

进一步的，还包括接地垫块，所述接地垫块设于所述测试基板上，所述接地垫块对应于所述接地区设置，所述表贴式环行器的腔体通过所述接地垫块与所述导通结构导通。进一步的，所述表贴式环行器具有三个所述PIN针组件，所述测试基板上设有三个所述POGOPIN，三个所述PIN针组件与三个所述POGO PIN一一对应设置。