[实用新型]自动分频机有效
申请号: | 202021965193.1 | 申请日: | 2020-09-10 |
公开(公告)号: | CN213644962U | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 谢尚平;刘兴波 | 申请(专利权)人: | 珠海东锦石英科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/344;B07C5/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 519000 广东省珠海市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分频 | ||
本实用新型公开了一种自动分频机,旨在提供一种节省人工成本、提高生产效率和测试准确度高的自动分频机。本实用新型包括工作台,所述工作台上设置有料盘组件,所述料盘组件的一端设置有分料装置,所述料盘组件和所述分料装置之间设置有电极测试装置,所述料盘的正上方设置有定位摄像头和取料摄像头,所述料盘组件和所述电极测试装置之间设置有搬运机械手,所述分料装置上设置有分档机械手,所述工作台上还设置有MCU控制系统,所述料盘组件、所述分料装置、所述电极测试装置、所述定位摄像头、所述取料摄像头、所述搬运机械手和所述分档机械手均与所述MCU控制系统电性连接。本实用新型应用于于晶片的加工设备的技术领域。
技术领域
本实用新型涉及一种自动分频机,特别涉及一种应用于超小型石英晶片的自动分频机。
背景技术
石英晶片是制作石英晶体元器件的基体,石英晶体元器件具有优良的频率稳定性、品质因素高和成本低的优点;对石英晶片的频率进行精准的测量和分选是提高石英晶体元器件质量和生产效率的一个重要工艺过程;现有的晶片分频机在上料的时候晶片容易在边沿叠合,无法被摄像头识别,从而无法进行后续的测试工序,需要人工手动处理;另外现有的晶片在分频检测完后还需要进行检查外观,对晶片崩边、划痕、亮点等瑕疵进行检测挑选,大大的降低了工作效率。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种节省人工成本、提高生产效率和测试准确度高的自动分频机。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括工作台,所述工作台上设置有料盘组件,所述料盘组件的一端设置有分料装置,所述料盘组件和所述分料装置之间设置有电极测试装置,所述料盘的正上方设置有定位摄像头和取料摄像头,所述料盘组件和所述电极测试装置之间设置有搬运机械手,所述分料装置上设置有分档机械手,所述工作台上还设置有MCU控制系统,所述料盘组件、所述分料装置、所述电极测试装置、所述定位摄像头、所述取料摄像头、所述搬运机械手和所述分档机械手均与所述MCU控制系统电性连接。
进一步的,所述料盘组件包括旋转电机和与所述旋转电机相连接的原料盘,所述原料盘的外沿设有环形沟槽,所述环形沟槽的下端设置有晶片抽屉,所述环形沟槽上设有与所述晶片抽屉相连通的通孔。
进一步的,所述原料盘的上端设置有加料装置,所述加料装置包括转动电机、储料筒和漏斗,所述转动电机与所述储料筒相连接,所述储料筒内设有螺纹导料槽,所述储料筒位于所述原料盘的上方,所述漏斗位于所述储料筒的出口与所述原料盘之间。
进一步的,所述电极测试装置包括测试转盘,所述测试转盘上阵列有若干个测试载具,所述测试载具的下端均设置有下电极,所述测试转盘的一端设置有上电极组件。
进一步的,所述分料装置包括分料盘,所述分料盘设有与所述测试转盘相适配的缺口,所述分料盘的外圈阵列有若干个料盒。
进一步的,所述分档机械手安装于所述分料盘的圆心上,所述分档机械手的末端设置有两个分档吸头,所述分档吸头位于所述料盒的上方,且两个所述分档吸头之间的距离与相邻的两个测试载具之间的距离相等。
进一步的,所述定位摄像头为检查外观定位摄像头,所述取料摄像头为识别晶片定位摄像头,所述检查外观定位摄像头和所述识别晶片定位摄像头的下方均设置有光源反射器。
进一步的,所述MCU控制系统包括MCU控制器和均与所述MCU控制器电性连接的显示屏、键盘、鼠标、报警灯和开关键。
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