[实用新型]低压变频器老化测试装置有效

专利信息
申请号: 202021969466.X 申请日: 2020-09-10
公开(公告)号: CN212459910U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 张树林;陈万燕;钱永;邓德宽 申请(专利权)人: 成都希望电子研究所有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610200 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 低压 变频器 老化 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种低压变频器老化测试装置,由n台被测变频器(1)、n组LC滤波器(2)、电感(3)、回馈变频器(4)以及环网接触器(5)组成,其特征在于:第一台所述被测变频器(1)三相输入端连接电网电源,被测变频器(1)三相输出端接LC滤波器(2),再串接到下一台被测变频器(1)输入端,如此循环,将最后一台所述被测变频器(1)输出端连接所述LC滤波器(2),再串联所述电感(3)接到所述回馈变频器(4)输入端,回馈变频器(4)输出端串接LC滤波器(2),LC滤波器连接所述环网接触器(5)后与电网电源连接形成闭合环路。

2.根据权利要求1所述的低压变频器老化测试装置,其特征在于:所述LC滤波器(2)输出正弦波作为下一台被测变频器(1)及回馈变频器(4)的供电电源。

3.根据权利要求1所述的低压变频器老化测试装置,其特征在于:通过调节所述回馈变频器(4)的输出电压或相位角来改变装置环路电流,根据不同功率等级给所有被测低压变频器提供老化电流。

4.根据权利要求1所述的低压变频器老化测试装置,其特征在于:所述串联被测变频器(1)台数n≥1,变频器老化不受数量限制。

5.根据权利要求1所述的低压变频器老化测试装置,其特征在于:所述回馈变频器(4)输出端经LC滤波器(2)后通过环网接触器(5)将电能回馈到电网。

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