[实用新型]一种用于测试治具的整体冲压成型弹片探针

说明书

本实用新型公开了一种用于测试治具的整体冲压成型弹片探针，包括安装块、环状内凹槽、针板单体、限位槽和限位框，所述安装块一侧的外壁上固定有针板单体，且针板单体内部的一侧固定有内筒，并且内筒内部的两侧皆设置有环状内凹槽，所述环状内凹槽内部的一端安装有限位块，且限位块底端的一侧固定有主连杆，并且主连杆底端的一侧固定有副连杆，所述内筒的两内侧壁上皆设置有限位槽，内筒顶端的一侧固定有固定块，且固定块底端的一侧固定有限位框。本实用新型不仅降低弹片探针的使用成本，降低针头与针头之间的间距，使探针在相同面积内进行更多的安装，还延长弹片探针的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及连接器测试技术领域，具体为一种用于测试治具的整体冲压成型弹片探针。

背景技术

探针卡主要应用在IC尚未封装前，辅以相关的测试仪器与软件，针对裸晶以探针作各项功能测试的作业，从而筛选出不良品，良品则再进行之后的封装工程，一般使用传统的测试探针，根据国定的pin数，通过使用CNC圆孔加工，因为有一定的市场导入时间，很多加工企业都有一定的成本管控能力，但是因为探针的本身结构特性，在测试过程中的稳定性差，寿命低，导致很多市场逐步使用Iwin结构的片状探针，即弹片探针。

现今市场上的此类弹片探针种类繁多，基本可以满足人们的使用需求，但是依然存在一定的不足之处，具体问题有以下几点。

(1)现有的此类弹片探针在使用时，在考虑探针需数的情况下，通常是以千计被制造组装，每一根探针的组成所需耗费的时间更长，造成成本的耗费较高；

(2)现有的此类弹片探针的接触端面多呈圆柱立体状，其形状接触芯片时也无法达到针与针的间距更为缩小的要求，即探针之间的间距仍然过大；

(3)现有的此类弹片探针在长时间使用后，弹片出现疲劳磨损，此时弹片难以对探针起到回弹的作用，使用寿命低，维修较为麻烦。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于测试治具的整体冲压成型弹片探针，以解决上述背景技术中提出弹片探针的使用成本高、针头间距大以及使用寿命低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于测试治具的整体冲压成型弹片探针，包括安装块、环状内凹槽、针板单体、限位槽和限位框，所述安装块一侧的外壁上固定有针板单体，且针板单体内部的一侧固定有内筒，并且内筒内部的两侧皆设置有环状内凹槽，所述环状内凹槽内部的一端安装有限位块，且限位块底端的一侧固定有主连杆，并且主连杆底端的一侧固定有副连杆，所述内筒的两内侧壁上皆设置有限位槽，内筒顶端的一侧固定有固定块，且固定块底端的一侧固定有限位框，所述限位槽内部的一侧滑动安装有U形块，U形块的底端与限位块的顶端固定连接。

优选的，所述安装块表面的两侧皆设置有橡胶垫片，且橡胶垫片表面的一侧安装有连接杆，连接杆的一端延伸至安装块的外部，并且连接杆表面的一侧螺纹处安装有微型螺母。

优选的，所述内筒的一端设置有第二弹片探针主体，且第二弹片探针主体表面的一侧设置有卡槽，所述内筒一侧的外壁上固定有卡块。

优选的，所述内筒一侧的外壁上固定有卡块。

优选的，所述副连杆底端的一侧固定有第一弹性力臂，且第一弹性力臂底端的一侧固定有第二弹性力臂，并且第二弹性力臂底端的一侧安装有探针头。

优选的，所述限位框顶部的一侧安装有回位弹簧，且回位弹簧底端的一侧安装有滑块，滑块的两端与限位框的内壁滑动连接。

优选的，所述滑块底端的一侧固定有导向杆，导向杆的底端延伸至限位框的外部并与U形块的顶端固定连接。

优选的，所述探针头可采用铍铜材质，且针身镀金。

优选的，所述卡块呈长方形形状，处于内筒的中心位置处。

优选的，所述卡槽呈长方形凹槽，卡槽与卡块可相互卡合。