[实用新型]一种测试定位工装及IR LED测试装置

说明书

本实用新型公开了一种测试定位工装及IR LED测试装置，测试定位工装包括上测试基板和下测试基板；上测试基板和下测试基板一端铰接，另一端通过卡扣结构卡合连接，下测试基板朝向上测试基板的板面上设有用于对FPC进行定位的定位结构，上测试基板或/和下测试基板上设置有与IR LED位置对应的透光孔。IR LED测试装置包括机架，机架上设置有测试探头及位于测试探头下方的测试定位工装；测试探头的接收窗的周围设置有遮光圈。本实用新型利用测试定位工装对FPC进行定位；一次定位后可利用测试探头对FPC上多个IR LED逐一测试；确保IR LED辐射照度的测试效果的同时也提高了生产节拍，缩短了测试周期。

技术领域

本实用新型属于产品测试技术领域，尤其涉及一种测试定位工装及IR LED 测试装置。

背景技术

目前的VR/AR等智能头戴设备中加入各种眼球/面部追踪技术，即引入大量的IRLED(红外发光二极管)来进行照明，为了确保使用的安全性通常需要测试IR LED的辐射照度。但目前针对IR LED的测试，只有单颗IR LED的测试方案，这种情况下，只能测试IR LED的亮灭或相对亮度；而对在FPC状态下IR LED的测试目前还没有成熟的测试方案。

鉴于此，如何设计一种适用于测试FPC状态下IR LED辐射照度的测试定位工装及IR LED测试装置，是本领域技术人员目前亟需解决的技术问题。

实用新型内容

旨在克服上述现有技术中存在的不足，本实用新型解决的第一个技术问题是，提供了一种测试定位工装，测试时，可对FPC及FPC上待测试的IR LED 进行精确定位；以确保IR LED辐射照度的测试效果。

作为同一个技术构思，本实用新型解决的第二个技术问题是，提供了一种 IR LED测试装置。

本实用新型解决上述第一个技术问题所采用的技术方案是：一种测试定位工装，用于IR LED测试装置，IR LED设置于FPC的正面或/和反面；所述测试定位工装包括上测试基板和下测试基板；所述上测试基板和所述下测试基板一端铰接，另一端通过卡扣结构卡合连接，所述下测试基板朝向所述上测试基板的板面上设有用于对所述FPC进行定位的定位结构，所述上测试基板或/和所述下测试基板上设置有与所述IR LED位置对应的透光孔。

进一步，所述卡扣结构包括铰接座、铰接于所述铰接座上的第一卡合件以及第二卡合件，所述第一卡合件可与所述第二卡合件分离或卡合；

所述铰接座设置于所述上测试基板，所述第二卡合件设置于所述下测试基板；或者，所述铰接座设置于所述下测试基板，所述第二卡合件设置于所述上测试基板。

进一步，所述铰接座与所述第一卡合件之间设置有弹性件；在卡合状态下，所述弹性件的复位力使所述第一卡合件的卡合部具有朝向所述第二卡合件方向运动的趋势。

进一步，所述下测试基板上设有导向定位柱，所述上测试基板上设有与所述导向定位柱相适配的导向定位孔；或者，所述上测试基板上设有导向定位柱，所述下测试基板上设有与所述导向定位柱相适配的导向定位孔。

进一步，所述上测试基板与所述下测试基板通过自复位阻尼铰链结构铰接。

进一步，所述自复位阻尼铰链结构包括铰接耳、设置于所述铰接耳上的枢轴、与所述枢轴枢接的枢转件以及套设于所述枢轴上的扭簧；所述扭簧的一端扭臂与所述枢转件连接；

所述铰接耳成型于所述下测试基板，所述枢转件与所述上测试基板固定；或者，所述铰接耳成型于所述上测试基板，所述枢转件与所述下测试基板固定。

本实用新型解决上述第二个技术问题所采用的技术方案是：一种IR LED测试装置，用于测试FPC上IR LED的辐射照度；包括机架、设置于所述机架上的测试探头以及所述的测试定位工装；所述测试定位工装设置于所述测试探头下方的所述机架上；所述测试探头的接收窗的周围设置有遮光圈。