[实用新型]一种半导体检测用四探针有效

专利信息
申请号: 202022001211.0 申请日: 2020-09-14
公开(公告)号: CN213398671U 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 杨博 申请(专利权)人: 柳州臻驱电控科技有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/26
代理公司: 杭州知管通专利代理事务所(普通合伙) 33288 代理人: 黄华
地址: 545000 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 检测 探针
【说明书】:

实用新型公开了一种半导体检测用四探针,包括本体,所述本体的上端固定安装有绝缘板,所述绝缘板上端的中部固定安装有测试板,所述本体后端的中部固定安装有支架,所述支架的前端延伸至测试板上方,所述绝缘板上端的左端固定安装有控制台,所述控制台的上端固定安装有数示屏,所述数示屏的下端嵌入在控制台的内部,所述数示屏的上端与控制台的上端为同一平面。该半导体检测用四探针,通过安装压力传感器可在对半导体进行检测时可对测试头下探的压力进行探测,避免下探压力过大将半导体原件造成损伤,使得测试数据失效,有效的提高了测试的精度,且对半导体原件进行保护,同时使测试更加的便捷,有效的增加了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域,具体为一种半导体检测用四探针。

背景技术

半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件。

在进行对半导体探测时,现有的四探针测试由于无法对下探测试时的压力进行控制,往往会导致半导体原件受损,且无法做到有效的绝缘,使得测试数据参差不齐。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体检测用四探针,以解决上述背景技术中提出在进行对半导体探测时,现有的四探针测试由于无法对下探测试时的压力进行控制,往往会导致半导体原件受损,且无法做到有效的绝缘,使得测试数据参差不齐的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体检测用四探针,包括本体,所述本体的上端固定安装有绝缘板,所述绝缘板上端的中部固定安装有测试板,所述本体后端的中部固定安装有支架,所述支架的前端延伸至测试板上方,所述绝缘板上端的左端固定安装有控制台,所述控制台的上端固定安装有数示屏,所述数示屏的下端嵌入在控制台的内部,所述数示屏的上端与控制台的上端为同一平面。

优选的,所述控制台上端的前端固活动安装有控制按钮,所述控制按钮位于数示屏的前方,所述控制按钮与控制台活动连接,所述支架上端的前端固定安装有电动推杆,所述电动推杆的传动端穿过支架延伸至支架的下方。

优选的,所述电动推杆的传动端活动安装有伸缩杆,所述伸缩杆与电动推杆的传动端活动连接,所述伸缩杆的下端固定安装有测试头。

优选的,所述测试板内部的上端固定安装有绝缘层,所述绝缘层的下方固定安装有压力控制板。

优选的,所述压力控制板的上端通过连接线固定安装有压力传感器,所述压力传感器与绝缘层固定连接。

优选的,所述测试头下端的左右两端固定安装电流控制板,所述电流控制板的下端固定安装有四探针头,所述四探针头在电流控制板的下端均匀分布。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

1、该半导体检测用四探针,通过安装压力传感器可在对半导体进行检测时可对测试头下探的压力进行探测,避免下探压力过大将半导体原件造成损伤,使得测试数据失效,有效的提高了测试的精度,且对半导体原件进行保护;

2、该半导体检测用四探针,通过在支架上端的前端固定安装有电动推杆,利用电动推杆对检测结构进行升降操作,避免了人工手动操作测试导致半导体损害,同时使测试更加的便捷,有效的增加了测试效率,同时可通过控制按钮对电动推杆下降的精度进行调整,使得测试精度更高,测试数据更加精准;

3、该半导体检测用四探针,通过在伸缩杆的下端固定安装有测试头,可对半导体进行测试,同时在测试头的下方固定安装绝缘板,使得在进行测试时不会使微电流外放导致对半导体造成破坏,影响测试数据的准确性,同时也避免了静电对半导体造成击伤。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图;

图2为本实用新型压力传感器剖面结构示意图;

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