[实用新型]单晶衍射仪用原位光照单晶装置

说明书

一种原位光照单晶装置，所述原位光照单晶装置包括底座、中空套管和光纤，其中所述底座配置为固定并支持所述中空套管和光纤，所述光纤从所述中空套管中穿过，所述中空套管配置为固定并支持从其中穿过的所述光纤；所述光纤的一端具有能够与激光器耦合的接口。采用上述装置测试单晶结构时，单晶与光纤相对位置调节恰当，便不会干扰单晶正常测试，这样光照过程和单晶测试过程就可以同时进行，只需要通过开关激光就可实现原位光照单晶试验。

技术领域

本实用新型属于科学仪器领域。具体涉及一种单晶衍射仪用原位光照单晶装置。

背景技术

X射线单晶结构分析作为一种可以精确测定分子三维空间结构的物理方法，已经成为确定物质结构与组成的最重要的技术手段之一，因此，用于单晶解析的X射线单晶衍射仪被广泛地应用于化学、材料科学和生命科学等领域的研究。当前绝大多数单晶仪主要集成控温系统，便于收集不同温度的单晶数据。但当需要研究光响应材料时，需要将光信号照射到样品上，研究光辐射对样品结构与性能的影响，现有的设备无法满足此需求。光响应材料如光诱导自旋转变，光致变色化合物等是当前科学研究的热点之一，在分子开关、数据存储和显示材料等领域具有广阔的应用前景。该类材料在光照条件下通常会发生结构变化。根据物质结构决定性能这一原理，需要研究样品在光辐射下单晶结构的变化，从而直观深入研究其机理与构效关系，对设计性能优良的光响应材料具有重要指导意义。然而，目前市场和实验室中均没有光照单晶测试装置，研究者需要用光纤引出激光直接照射单晶，待辐照完成后，将单晶样品转移到X射线单晶衍射装置中进行测试，该种方法存在如下问题：1)光辐射过程和单晶测试无法同时进行，只能先用激光照射样品，待光照饱和之后，再取出光纤进行单晶测试，无法满足大多数光响应材料的测试需要；2)无合适的支架设计，只是对光纤简单的支撑，不能很好的固定光纤，无法精确对焦测试样品。

实用新型内容

本装置通过光纤引入所需特定波长的激光，对测试的单晶样品进行光辐射，从而实现原位光照单晶前后的结构测定，深入了解光响应材料的性能变化与结构对应关系，对合成性能更优良的光响应材料具有重要指导意义。

本实用新型的实施例提供一种原位光照单晶装置，所述原位光照单晶装置包括底座、中空套管和光纤，其中所述底座配置为固定并支持所述中空套管和光纤，所述光纤从所述中空套管中穿过，所述中空套管配置为固定并支持从其中穿过的所述光纤；所述光纤的一端具有能够与激光器耦合的接口。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述中空套管长度为0.2米-3米，外径为10mm-15mm，内径为5mm-10mm，且所述外径大于所述内径。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述底座为可开关强磁吸座，所述可开关强磁吸座内部有磁铁，外部有手柄，所述手柄与所述磁铁连接，转动所述手柄，则所述磁铁跟随转动。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述底座正面设置有螺孔，所述螺孔配置为固定所述中空套管。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述中空套管为万向弯曲韧性套管，所述万向弯曲韧性套管的管壁为双层结构，其中内层为金属，外层为高分子材料。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述金属为304不锈钢，所述高分子材料为橡胶。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述接口为SMA-905接口。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述光纤材质为石英，直径为1mm-2mm，长度为所述中空套管长度的1.01-1.1倍。

根据本实用新型的一种实施方式，例如，所述光纤数值孔径NA0.37，直径为1.5mm，长度为770mm；所述中空套管的长度为520mm，内径为10mm。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的单晶衍射仪用原位光照单晶装置实物图；