[实用新型]一种抗震防摔的芯片测试仪

权利要求书

1.一种抗震防摔的芯片测试仪，包括工作台（10），其特征在于：所述工作台（10）的上方左端固定安装有芯片台（1），所述芯片台（1）的顶端中间位置处活动安装有防灰壳（3），所述芯片台（1）的上方右端固定安装有第一开关（2），所述防灰壳（3）的后方开设有芯片槽（4），所述工作台（10）的上方右端固定安装有按键（11），所述工作台（10）的后端焊接固定安装有主机（6），所述主机（6）的前端中间位置处固定安装有显示屏（5），所述显示屏（5）的右侧固定安装有第二开关（9），所述主机（6）的左右两端均粘接固定有防护壳（7），所述防护壳（7）的底端固定安装有台柱（8），所述芯片台（1）的顶端开设有第一滑轨（12），所述芯片台（1）的右端开设有卡槽（13），所述防灰壳（3）的底端固定安装有第一滑轮（14），所述防灰壳（3）的右端开设有第二滑轨（15），所述第二滑轨（15）的右端活动安装有第二滑轮（16），所述第二滑轮的右端固定连接有滑块（17），所述按键（11）与第一开关（2）电性连接，所述主机（6）和显示屏（5）均与第二开关（9）电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种抗震防摔的芯片测试仪，其特征在于：所述防护壳（7）与主机（6）之间通过胶水粘接连接，所述防灰壳（3）与芯片台（1）之间通过第一滑轮（14）和第一滑轨（12）的相互配合滑动连接，所述防灰壳（3）通过滑块（17）与卡槽（13）的相互配合卡合固定。

3.根据权利要求1所述的一种抗震防摔的芯片测试仪，其特征在于：所述卡槽（13）共开设有两组，所述两组卡槽（13）均匀分布在芯片台（1）的右端，所述第一滑轨（12）共开设有两组，所述两组第一滑轨（12）对称分布在芯片台（1）的顶端左右两侧。

4.根据权利要求1所述的一种抗震防摔的芯片测试仪，其特征在于：所述第一滑轮（14）共设置有四组，所述四组第一滑轮（14）分别分布在防灰壳（3）底端的四个拐角处，所述第二滑轨（15）共设置有两组，所述两组第二滑轨（15）均匀开设在防灰壳（3）的右端，所述第二滑轮（16）共设置有两组，所述两组第二滑轮（16）均匀分布在滑块（17）的后端，所述防灰壳（3）与滑块（17）通过第二滑轨（15）和第二滑轮（16）的相互配合滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种抗震防摔的芯片测试仪，其特征在于：所述防护壳（7）共设置有四组，所述其中两组防护壳（7）对称分布在工作台（10）的左右两端，所述另两组防护壳（7）对称分布在主机（6）的左右两端。