[实用新型]一种LCD测试电路

说明书

本实用新型属于半导体集成电路的技术领域，具体涉及一种LCD测试电路，包括主控模块、Source信号产生模块、Gate信号产生模块和输出接口模块，主控模块设置有第一I/O端和第二I/O端，Source信号产生模块与第一I/O端连接，Gate信号产生模块与第二I/O端连接，Source信号产生模块和Gate信号产生模块均与输出接口模块连接，Source信号产生模块用于产生Source方波信号，Gate信号产生模块用于产生经过放大的方波信号。本实用新型的通用性强，能够更好地测试TFT‑LCD的各项参数，并能够有效地提高LCD测试的效率。

技术领域

本实用新型属于半导体集成电路的技术领域，具体涉及一种LCD测试电路。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器称为Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，而TFT-LCD是其英文缩写，并且，其已被广泛应用在电视机、电脑、投影机和移动平板等的电子产品中。

然而，发明人发现了现有的TFT-LCD测试电路的测试精度低、运行稳定性差、功能单一，不能满足生产过程中的便捷检测，极大地降低了TFT-LCD的生产效率。

为此，亟需提出一种新型的测试电路以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对现有技术的不足，提供一种LCD测试电路，其稳定可靠，通用性强，能够更好地测试TFT-LCD的各项参数，并能够有效地提高LCD测试的效率。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种LCD测试电路，包括主控模块、Source信号产生模块、Gate信号产生模块和输出接口模块，所述主控模块设置有第一I/O端和第二I/O端，所述Source信号产生模块与所述第一I/O端连接，所述Gate信号产生模块与所述第二I/O端连接，所述Source信号产生模块和所述Gate信号产生模块均与所述输出接口模块连接，所述Source信号产生模块用于产生Source方波信号，所述Gate信号产生模块用于产生经过放大的方波信号，其中，Source信号产生模块和Gate信号产生模块的电信号处理能力强，能够有效提高测试电路的测试精度和运行稳定性。

进一步地，所述Source信号产生模块包括第一运放单元、第二运放单元、第三运放单元和第四运放单元，所述第一运放单元、所述第二运放单元、所述第三运放单元和所述第四运放单元均与所述第一I/O端连接，所述第一运放单元、所述第二运放单元、所述第三运放单元和所述第四运放单元的放大倍数均为1。

进一步地，所述第一I/O端设置有P00管脚、P01管脚、P02管脚、P03管脚、P04管脚、P05管脚、P06管脚和P07管脚，所述第一运放单元连接于所述P00管脚和所述P01管脚，所述第二运放单元连接于所述P02管脚和所述P03管脚，所述第三运放单元连接于所述P04管脚和所述P05管脚，所述第四运放单元连接于所述P06管脚和所述P07管脚。

进一步地，所述Gate信号产生模块包括第五运放单元、第六运放单元、第七运放单元和第八运放单元，所述第五运放单元、所述第六运放单元、所述第七运放单元和所述第八运放单元与所述第二I/O端连接，所述第五运放单元、所述第六运放单元、所述第七运放单元和所述第八运放单元的放大倍数均为2.2。

进一步地，所述第二I/O端设置有P20管脚、P21管脚、P22管脚、P23管脚、P24管脚、P25管脚、P26管脚和P27管脚，所述第五运放单元连接于所述P20管脚和所述P21管脚，所述第六运放单元连接于所述P22管脚和所述P23管脚，所述第七运放单元连接于所述P24管脚和所述P25管脚，所述第八运放单元连接于所述P26管脚和所述P27管脚。