[实用新型]一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓有效
申请号: | 202022010046.5 | 申请日: | 2020-09-15 |
公开(公告)号: | CN212364063U | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 朱新勇;刘平安;张磊;王玉建;刘永利;张朝惠;郭永玲 | 申请(专利权)人: | 青岛青源峰达太赫兹科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/3586 | 分类号: | G01N21/3586;G01N21/03;G01N21/01 |
代理公司: | 青岛高晓专利事务所(普通合伙) 37104 | 代理人: | 付丽丽 |
地址: | 266000 山东省青岛市崂山区九水东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 不间断 测量 赫兹 时域 光谱 系统 透射 样品 | ||
本实用新型公开了一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓,包括发射光路单元、探测光路单元、样品转盘、样品转盘旋转电机和样品仓,发射光路单元、探测光路单元均置于样品仓中,样品转盘的一部分置于样品仓内,另一部分密封穿过样品仓壳置于样品仓外,样品转盘置于发射光路单元和探测光路单元中间位置,在样品转盘环向上均匀设置样品固定孔,样品转盘旋转电机与样品转盘连接,带动样品转盘转动,实现样品固定孔在样品仓内和样品仓外的转换,并将含有待测样品的样品固定孔置于发射光路单元和探测光路单元构成的太赫兹光路光轴上。通过样品转盘旋转电机和样品转盘实现自动进样,选用空气单向阀控制进出样品仓的空气流速,保证仓内压强恒定。
技术领域:
本实用新型属于太赫兹时域光谱和成像技术领域,具体涉及一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓。
背景技术:
太赫兹技术是近十几年来新兴起的热门研究领域,太赫兹波是频率在0.1-10THz(对应波长30μm-3mm)之间的电磁波,在电磁波谱图上介于微波与红外线之间。太赫兹时域光谱检测技术能够检测物质结构之间的细微差异,能够强烈的响应到晶体中的晶格低频振动和谐振,对于有机分子间的偶极旋转、氢键、振动跃迁以及范德华力等弱相互作用力也有十分强烈的响应,能够敏锐探测到同分异构体和对映异构体的变化。太赫兹时域光谱检测技术具有分子特异识别性、介电材料高穿透性、辐射安全性等优良特性,此外太赫兹时域光谱系统的检测原理是同步的相干检测,由于同步相干检测对热背景噪声的不敏感性,使得该系统能够提供非常高的信噪比,特别是在4THz以下的频段,具有远超近红外光谱和中红外光谱的信噪比。因此太赫兹时域光谱系统日益发展成为一种现场原位、非侵入式、自动化检测技术手段,弥补现有红外光谱系统检测手段的技术缺陷,可用于毒品检测、危险化学品、爆炸物、生物大分子等物质进行快速检测,在自动化检测领域具有巨大的应用潜力和需求。
太赫兹技术的技术理论正在不断完善,研究成果不断涌现,太赫兹波技术的应用也日趋完善。水汽对太赫兹波的吸收非常严重,传统的太赫兹时域光谱系统样品仓样品测量过程中需要每次进行样品仓内气体的排空置换,造成大量的重复工作量,且测试效率较低,两次样品测试过程中样品仓的气体压力与湿度无法保证均匀一致,对实验结果产生影响。
本实用新型专利设计一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓的设计及样品进样方法,其中样品仓内气体压力为一固定正压,在保证样品仓实现干燥气体持续充盈的情况下实现样品的自动进样,实现系统不间断实时测量的目的,减少由于样品取放过程中造成样品仓内气体环境湿度变化造成的影响,提高系统测试效率。
实用新型内容:
本实用新型目的在于克服现有技术存在的缺点,大气中的水汽对太赫兹波具有明显的吸收衰减作用,湿度越大对太赫兹波的衰减作用越强,在吸收峰值处影响更加明显。通用的太赫兹时域光谱系统样品仓的设计为一个密闭空间,当进行样品测量时首先将样品置于样品支架后再对样品仓充入干燥气体,不同样品测量前都要对样品仓进行重复的排空操作,测量效率较低,且不能保证每次样品仓内的空气湿度保持一致。为解决以上样品仓使用过程中的问题,本实用新型的目的在于提供了一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓的设计及样品进样方法,在保证样品仓实现干燥空气持续充盈的情况下实现样品的自动进样,实现系统不间断实时测量的目的,减少由于样品取放过程中造成样品仓内气体环境湿度变化造成的影响,提高系统测试效率。
为了实现上述目的,本实用新型涉及的不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓,包括发射光路单元、探测光路单元、样品转盘、样品转盘旋转电机和样品仓,发射光路单元、探测光路单元均置于样品仓中,样品转盘的一部分置于样品仓内,另一部分密封穿过样品仓壳置于样品仓外,样品转盘置于发射光路单元和探测光路单元中间位置,在样品转盘环向上均匀设置样品固定孔,样品转盘旋转电机与样品转盘连接,带动样品转盘转动,实现样品固定孔在样品仓内和样品仓外的转换,并将含有待测样品的样品固定孔置于发射光路单元和探测光路单元构成的太赫兹光路光轴上,完成样品的添加。
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