[实用新型]一种TO测试底座

说明书

本实用新型公开了一种TO测试底座，该测试底座包括5个测试孔，5个测试孔呈正五边形排列，其中1个测试孔为长测试孔，其余4个测试孔为圆测试孔；或其中4个测试孔为圆测试孔，呈等腰梯形排列，第5个测试孔为长测试孔，位于等腰梯形下底的中点处。此外，所有测试孔的孔径均远大于LD‑TO的管脚直径，测试底座内部的测试孔呈倒圆台或倒圆锥形；长测试孔为长圆形、长椭圆形或长条形。本实用新型的测试底座能够兼容现有的两种测试底座，适用这两种LD‑TO的测试和老化，节省生产成本。

技术领域

本实用新型属于激光器测试技术领域，具体涉及一种TO测试底座。

背景技术

LD-TO测试底座主要用于TO封装的LD-TO，即激光器的测试和老化。现在市场上常见的TO56-5pin封装的LD-TO所用的测试底座，根据其测试孔排列方式分为两种：1、5孔环形排列，如图1所示，5个孔位于正五边形的五个顶点；2、5孔梯形排列，如图2所示，4个孔位于等腰梯形的4个顶点，最后1个孔位于等腰梯形的下底中点。现有的这两种测试底座，在实际使用过程中，有如下缺点：1、每种测试底座只适用于一种5pin-TO56 LD-TO，而市场上有两种5pin-TO56 LD-TO，不能做到兼容，因此需要同时配置两种类型的测试底座，增加生产成本；2、测试底座的孔径设计过小，在使用过程中需要频繁插拔LD-TO，不但会造成插拔效率低，而且会造成管腿扭曲变形，增加不良率。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题是提供一种TO测试底座，解决现有两种5管脚测试底座不兼容的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种TO测试底座，该测试底座包括5个测试孔，5个测试孔呈正五边形排列，其中1个测试孔为长测试孔，其余4个测试孔为圆测试孔。

进一步地，所有测试孔的孔径均远大于LD-TO的管脚直径，测试底座内部的测试孔呈倒圆台或倒圆锥形。

进一步地，长测试孔为长圆形、长椭圆形或长条形。

本实用新型还提供另一种TO测试底座，该测试底座包括5个测试孔，其中4个测试孔为圆测试孔，呈等腰梯形排列，第5个测试孔为长测试孔，位于等腰梯形下底的中点处。

进一步地，所有测试孔的孔径均远大于LD-TO的管脚直径，测试底座内部的测试孔呈倒圆台或倒圆锥形。

进一步地，长测试孔为长圆形、长椭圆形或长条形。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的测试底座能够兼容现有的两种测试底座，适用这两种LD-TO的测试和老化，节省生产成本。

进一步地，所有测试孔的孔径均远大于LD-TO的管脚直径，大孔径的测试孔方便LD-TO的插拔，不但能够提高插拔的效率，而且能够避免因测试孔的孔径过小而造成管腿在插拔的过程中扭曲变形，能够有效减少LD-TO的不良率；测试底座内部的测试孔呈倒圆台或倒圆锥形，随着管脚深入测试孔，测试孔的孔径越来越小，会很容易使管脚和测试底座的探针接触，完成导通。

附图说明

图1为5孔环形排列的测试底座的示意图；

图2为5孔梯形排列的测试底座的示意图；

图3为本实用新型的TO测试底座的示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

为了实现5孔环形排列和5孔梯形排列这两种测试底座之间的兼容，本实用新型将这两种测试底座的中间孔结合在一起，设计成一个长测试孔，最终设计了一种适用于5管脚LD-TO的测试底座，该测试底座如图3所示。