[实用新型]一种智能测控系统

说明书

本实用新型公开了一种智能测控系统，包括ARM微控制器、高精度分立转换电路、低温漂线性光耦隔离电路以及通信电路，所述高精度分立转换电路、低温漂线性光耦隔离电路和通信电路分别与所述ARM微控制器连接。本实用新型具有有效提高模拟量采样及输出精度，减小温漂对测量精准度的影响，满足测控需求优点。

技术领域

本实用新型涉及测控技术领域，具体而言，涉及一种智能测控系统。

背景技术

现有的测控系统中多以51单片机为核心，不能满足当今“互联网+”和“大数据”时代对智能测控设备的高性能需求。现有测控系统存在以下问题：高精度(20bit及以上)的AD却又不易集成在微处理器中，测控系统的模拟量采样精度不高，高精度的DA不易集成在微处理器中，测控系统的模拟量输出精度达不到20bit以上，AD采集实验通常采用直接耦合方式，不能满足电气隔离的需要，即使用线性光耦隔离也存在一些问题，比如温漂影响测量精准度不高无法满足实验过程中对变化缓慢的模拟量进行隔离采集的要求；通讯实验电路过于简单，通常为基于异步通信的232总线或485总线，而工业中常用的CAN总线、以太网通信少有相应实验电路，无法满足测控需求。

实用新型内容

为了克服上述问题或者至少部分地解决上述问题，本实用新型实施例提供一种智能测控系统，有效提高模拟量采样及输出精度，减小温漂对测量精准度的影响，满足测控需求。

本实用新型的实施例是这样实现的：

一种智能测控系统，包括ARM微控制器、高精度分立转换电路、低温漂线性光耦隔离电路以及通信电路，高精度分立转换电路、低温漂线性光耦隔离电路和通信电路分别与ARM微控制器连接。

本智能测控系统的工作原理如下：

在进行测控实验时，通过高精度分立转换电路对实验数据的模拟量进行精确采样及精确输出至ARM微控制器，通过ARM微控制器对接收的数据进行下一步分析处理，同时，通过低温漂线性光耦隔离电路将信号温漂降低，防止电源耦合造成的干扰，然后将信号输出至ARM微控制器，通过通信电路实现以太网通信，将ARM微控制器与以太网进行连通。通过ARM微控制器、高精度分立转换电路、低温漂线性光耦隔离电路以及通信电路的配合，有效提高模拟量采样及输出精度，减小温漂对测量精准度的影响，满足测控需求。

在本实用新型的一些实施例中，一种智能测控系统，高精度分立转换电路包括高精度分立AD转换电路和高精度分立DA转换电路，高精度分立AD转换电路和高精度分立DA转换电路分别与ARM微控制器连接，ARM微控制器采用STM32芯片。

在本实用新型的一些实施例中，一种智能测控系统，高精度分立AD转换电路包括模数转换器，模数转换器采用ADS1256芯片；ADS1256芯片的DRDY引脚与STM32芯片的PD8引脚连接，ADS1256芯片的RESET引脚与STM32芯片的PD9引脚连接，ADS1256芯片的SCLK引脚与STM32芯片的PB13引脚连接，ADS1256芯片的DIN引脚与STM32芯片的PB15引脚连接，ADS1256芯片的DOUT引脚与STM32芯片的PB14引脚连接，ADS1256芯片的CS引脚与STM32芯片的PB12引脚连接，ADS1256芯片的AVDD引脚、SYNC PDWN引脚以及DVDD引脚均接电源，ADS1256芯片的AGND引脚以及DGND引脚均接地。

在本实用新型的一些实施例中，一种智能测控系统，高精度分立DA转换电路包括数模转换器，数模转换器采用DAC1220芯片；DAC1220芯片的SCLK_DAC1220引脚与STM32芯片的PE0引脚连接，DAC1220芯片的SDIO_DAC1220引脚与STM32芯片的PE1引脚连接，DAC1220芯片AVDD引脚以及DVDD引脚均接电源，DAC1220芯片的AGND引脚以及DGND引脚均接地。