[实用新型]放大成像装置及电子元件检测设备有效

专利信息
申请号: 202022063227.4 申请日: 2020-09-20
公开(公告)号: CN213516896U 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 范超;范炜 申请(专利权)人: 重庆金籁科技股份有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京化育知识产权代理有限公司 11833 代理人: 涂琪顺
地址: 408200 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 放大 成像 装置 电子元件 检测 设备
【说明书】:

实用新型提供一种放大成像装置及电子元件检测设备,涉及电子元件检测设备技术领域,为解决现有技术中对电子元件进行放大观测时,直接利用放大镜片进行人工观测,导致观测精度低,观测效率低的问题而设计。本实用新型提供的放大成像装置,包括放大镜头、载物台、光电成像仪器以及显示器;载物台用于承载待成像元件,放大镜头安装于光电成像仪器的输入端,放大镜头朝向待成像元件设置,光电成像仪器与显示器电气连接。本实用新型还提供一种电子元件检测设备,包括上述的放大成像装置。

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测设备技术领域,尤其是涉及一种放大成像装置及电子元件检测设备。

背景技术

电子元件是电子电路中的基本元素,通常是个别封装,并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路,例如:放大器、无线电接收机、振荡器等,连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上。电子元件也许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等),或是各种不同复杂度的群组,例如:集成电路(运算放大器、排阻、逻辑门等)。

电子元件属于精密元器件,在生产加工过程中要伴随着各种的检验工序,在不同的检验工序中,往往需要对电子元件的精细结构进行放大观测,而现有技术中对电子元件进行放大观测时,直接利用放大镜片进行人工观测,人为移动放大镜片进行观测,观测误差较大,观测精度低;而且,需要反复进行移动调节,才能够观测到具体结构,观测速度慢,观测效率低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种放大成像装置及电子元件检测设备,以解决现有技术中对电子元件进行放大观测时,直接利用放大镜片进行人工观测,导致观测精度低,观测效率低的技术问题。

本实用新型提供的放大成像装置,其特征在于,包括放大镜头、载物台、光电成像仪器以及显示器;

所述载物台用于承载待成像元件,所述放大镜头安装于所述光电成像仪器的输入端,所述放大镜头朝向所述待成像元件设置,所述光电成像仪器与所述显示器电气连接。

进一步地,所述放大成像装置还包括底座,所述光电成像仪器和所述载物台依次安装于所述底座。

进一步地,所述底座上表面开设有第一安装孔,所述光电成像仪器通过所述第一安装孔固定连接于所述底座。

进一步地,所述底座上表面开设有多组第二安装孔,多组所述第二安装孔沿背离所述光电成像仪器的方向间隔排布,所述载物台能够通过安装于不同组的所述第二安装孔,以调节所述载物台与所述光电成像仪器之间的距离。

进一步地,所述放大成像装置还包括玻片,所述玻片抵接于所述载物台朝向所述光电成像仪器的一端,所述待成像元件设置于所述载物台的上表面并与所述玻片抵接。

进一步地,所述放大成像装置还包括限位块,所述载物台朝向所述光电成像仪器的一端开设第三安装孔,所述限位块通过所述第三安装孔安装于所述载物台,所述玻片设置于所述限位块和所述载物台之间,且所述限位块能够限制所述玻片移动。

进一步地,所述限位块具有侧壁、底壁以及前壁,所述侧壁连接于所述前壁的一侧,所述底壁连接于所述前壁的底部;

所述放大成像装置包括限位块的数量为两个,两个所述限位块分别通过紧固件安装于所述载物台朝向所述光电成像仪器的一端的两侧,两个所述限位块的底壁、前壁以及侧壁与所述载物台之间形成限位槽,所述玻片插设于所述限位槽。

进一步地,所述放大镜头的焦距可调。

进一步地,所述放大镜头可拆卸地连接于所述光电成像仪器的输入端。

本实用新型还提供一种电子元件检测设备,包括上述的放大成像装置。

本实用新型放大成像装置及电子元件检测设备带来的有益效果是:

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