[实用新型]一种基于分相同步检验的二次回路验证装置

说明书

本实用新型涉及一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，包括开入信号检测装置、总电源、MCU以及接线端子排；所述总电源分别与所述开入信号检测装置、所述MCU电连接；所述MCU包括主CPU、LED驱动电路以及LED灯组；所述LED驱动电路与所述主CPU、所述LED灯组电连接；所述开入信号检测装置包括分别独立设置的A相开入检测光耦、B相开入检测光耦、C相开入检测光耦以及三跳开入检测光耦；所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦分别与所述接线端子排、所述主CPU电连接；所述LED灯组上分别对应所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦各设置有LED灯。

技术领域

本实用新型涉及一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，属于电力系统继电保护技术领域。

背景技术

随着继电保护技术的不断革新，一些运行时间较长的常规变电站就需要大量保护改造工作。在常规变电站涉及到线路保护分相出口回路的改造过程中，保护的分相跳闸回路可以通过整组试验进行验证，保护至录波装置的分相回路可以通过保护动作时查看录波信息进行验证。然而，由于母线保护处于运行状态，因此线路保护的分相启动失灵回路就只能使用万用表，然后采用逐相测量的方式来进行验证。这样，不仅验证方法不够直观，且还需要重复测量多次，才能保证回路唯一性，十分不便。

例如，在220kV线路保护中，采用的是分相启动失灵回路，即A相启动失灵、B相启动失灵、C相启动失灵以及三跳启动失灵，共计4个回路，通过同一根电缆至母线保护屏。为了检验每个回路的唯一性(此以A相为例)，则需使用万用表检验A相回路动作情况，B相回路、C相回路以及三跳启动失灵回路不动作情况。由于万用表同一时间只能测量一个回路的导通情况，所以需同一试验测量4次。

其次，使用万用表在二次回路上，采用点触的方式进行测量时，容易受到表笔与二次电缆接触的面积不足、接触点电阻过大或者操作方式错误的影响，导致万用表不能正确识别回路上动作情况。

实用新型内容

为了克服上述问题，本实用新型提供一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，该二次回路验证装置结构简单，携带方便，可以同步检验多相回路，提高对于相间寄生回路的检验速度，而且通过采用直接接入方式增大接触面积以及避免操作错误带来的影响。

本实用新型的技术方案如下：

一种基于分相同步检验的二次回路验证装置，包括开入信号检测装置、总电源、MCU以及接线端子排；所述总电源分别与所述开入信号检测装置、所述MCU电连接；所述MCU包括主CPU、LED驱动电路以及LED灯组；所述LED驱动电路与所述主CPU、所述LED灯组电连接；所述开入信号检测装置包括分别独立设置的A相开入检测光耦、B相开入检测光耦、C相开入检测光耦以及三跳开入检测光耦；所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦分别与所述接线端子排、所述主CPU电连接；所述LED灯组上分别对应所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦各设置有LED灯。

进一步的，还包括一隔离电源；所述总电源与所述隔离电源电连接；所述隔离电源与所述开入信号检测装置电连接。

进一步的，所述A相开入检测光耦、所述B相开入检测光耦、所述C相开入检测光耦以及所述三跳开入检测光耦均采用PC817光耦。

进一步的，所述主CPU采用89C52芯片。

进一步的，所述总电源采用USB接口标准。

进一步的，所述隔离电源采用24V直流隔离电源。

进一步的，所述LED驱动电路采用74HC573芯片。

本实用新型具有如下有益效果：