[实用新型]一种集成电路电源芯片测试接口板

说明书

本实用新型属于集成电路技术领域，尤其为一种集成电路电源芯片测试接口板，包括测试设备，所述测试设备的底部设置有底座，所述测试设备的表面设置有电源接口，所述测试设备的表面设置有指示灯，所述测试设备的顶部设置有测试接口板，所述测试接口板的内部设置有散热扇，所述测试接口板的顶部设置有弹簧，所述弹簧的一端设置有压板。通过在测试接口板的表面设置JTAG接口、AS接口、扩展接口与次扩展接、USB接口多种接口，可以对多种集成电路电源芯片进行测试，提高了此测试接口板的实用性，通过在测试接口板的内部设置散热扇，配合压板表面的散热孔，在测试时，可以对接口板与芯片散热，防止接口板与芯片温度过高，造成损坏。

技术领域

本实用新型属于集成电路技术领域，具体涉及一种集成电路电源芯片测试接口板。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。集成电路芯片包括硅基板、电路、固定封环、接地环混合至少一组防护环的电子元件。

然而，现有的集成电路电源芯片测试接口板，不能提供多种接口，无法测试多种接口的集成电路电源芯片，使此测试接口板具有局限性，且在测试时会产生热量，无法对芯片与接口板散热，造成使用不便，因此，如何提供一种便于使用的集成电路电源芯片测试接口板成了这一技术领域人员需要探讨与交流的问题。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种集成电路电源芯片测试接口板，解决了使用不便的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路电源芯片测试接口板，包括测试设备，所述测试设备的底部设置有底座，所述测试设备的表面设置有电源接口，所述测试设备的表面设置有指示灯，所述测试设备的顶部设置有测试接口板，所述测试接口板的内部设置有散热扇，所述测试接口板的顶部设置有弹簧，所述弹簧的一端设置有压板，所述压板的底部设置有绝缘垫，所述压板的表面开设有散热孔，所述压板的底部设置有胶柱，所述胶柱的一端设置有胶板，所述测试接口板的表面设置有JTAG接口，所述测试接口板的表面设置有AS接口，所述测试接口板的表面设置有扩展接口，所述测试接口板的表面设置有次扩展接口，所述测试接口板的表面设置有USB接口，所述测试设备的内部设置有电路模块，所述测试设备的内部设置有扩展模块。

优选的，所述USB接口的数量为多个，所述USB接口呈线性排列设置在测试接口板的表面。

优选的，所述胶柱的数量为两个，所述胶板的数量与胶柱的数量一致。

优选的，所述绝缘垫设置在弹簧的两侧，所述测试接口板通过弹簧与压板连接。

优选的，所述散热孔呈线性排列开设在压板的表面，所述散热扇与散热孔相对应。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过在测试接口板的表面设置JTAG接口、AS接口、扩展接口与次扩展接、 USB接口多种接口，可以对多种集成电路电源芯片进行测试，提高了此测试接口板的实用性，通过在测试接口板的内部设置散热扇，配合压板表面的散热孔，在测试时，可以对接口板与芯片散热，防止接口板与芯片温度过高，造成损坏。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的完整结构示意图；

图2为本实用新型的正视结构图；