[实用新型]一种高精度多重打磨的探针卡磨针机有效
申请号: | 202022087663.5 | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN213561708U | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 詹云富 | 申请(专利权)人: | 旺矽科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | B24B19/16 | 分类号: | B24B19/16;B24B27/00;B24B41/06;B24B41/02;B24B47/22 |
代理公司: | 上海微策知识产权代理事务所(普通合伙) 31333 | 代理人: | 张静 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 多重 打磨 探针 卡磨针机 | ||
本实用新型公开了一种高精度多重打磨的探针卡磨针机,包括底板,所述底板的上端固定连接有第一支撑板,所述底板的上端位于第一电控滑轨的右端固定连接有第二限位块。该高精度多重打磨的探针卡磨针机,将磨针机夹紧的部分变得可以自由调节大小,可以适用于不同规格和型号的探针卡,同时可以按照探针卡的中心位置进行固定,将探针卡外侧的四个部分同时进行夹紧,有效的将探针卡进行固定,同时方便拆卸和更换,将打磨的部分设置成三组不同精度的打磨盘,既可以实现高精度的打磨,同时也可以进行多重打磨,在一台设备上同时将探针卡进行三种不同精度的打磨,将探针卡的打磨精度增高,省时省力,方便操作,大大提高了实用性。
技术领域
本实用新型涉及探针卡磨针机技术领域,具体为一种高精度多重打磨的探针卡磨针机。
背景技术
探针卡是一种测试接口,主要对裸芯进行测试,通过连接测试机和芯片,通过传输信号对芯片参数进行测试,探针卡应用在IC尚未封装前,针对裸晶系以探针做功能测试,筛选出不良品、再进行之后的封装工程,因此,探针卡是IC制造中对制造成本影响相当大的重要制程之一。
然而,现有的探针卡磨针机在使用时,没有高精度的定位方式,导致探针卡无法时进行精准的定位,同时磨针机在固定探针卡时,难以根据不同规格的探针卡对夹具的尺寸进行调整,使得无法在一种设备上打磨不同规格的探针卡,同时大多数磨针机不能进行多重打磨,使得探针卡的针头部分不能进行充分的打磨,导致打磨精度不高,使得针头部分需要再次更换精度高的设备再次进行打磨,费时费力,实用性大大降低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种高精度多重打磨的探针卡磨针机,以解决上述背景技术中提出现有的探针卡磨针机在使用时,没有高精度的定位方式,导致探针卡无法时进行精准的定位,同时磨针机在固定探针卡时,难以根据不同规格的探针卡对夹具的尺寸进行调整,使得无法在一种设备上打磨不同规格的探针卡,同时大多数磨针机不能进行多重打磨,使得探针卡的针头部分不能进行充分的打磨,导致打磨精度不高,使得针头部分需要再次更换精度高的设备再次进行打磨,费时费力,实用性大大降低的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种高精度多重打磨的探针卡磨针机,包括底板,所述底板的上端固定连接有第一支撑板,所述第一支撑板的左侧固定连接有电机,所述第一支撑板的右侧设置有磨盘,所述磨盘的左侧设置有转轴,所述转轴的左端和电机的传动端传动连接,所述底板的上端位于第一支撑板的右侧设置有第一电控滑轨,所述第一电控滑轨与底板的上端通过螺栓可拆卸连接,所述第一电控滑轨的上端设置有第一滑块,所述第一滑块与第一电控滑轨之间滑动连接,所述第一滑块的上端固定连接有连接板,所述连接板的左上端固定连接有废料收集盒,所述连接板的上端位于废料收集盒的右侧固定连接有第二支撑板,所述第二支撑板的左侧设置有第二电控滑轨,所述第二支撑板的左侧位于第二电控滑轨的上下两端分别设置有相同的第一限位块,所述第二电控滑轨的左侧设置有第二滑块,所述第二滑块的左侧设置有夹具,所述底板的上端位于第一电控滑轨的右端固定连接有第二限位块。
优选的,所述磨盘包括第一磨盘、第二磨盘和第三磨盘,所述第一磨盘的外侧固定连接有第二磨盘,所述第二磨盘的外侧固定连接有第三磨盘,所述第一磨盘、第二磨盘和第三磨盘的厚度相同,所述第一磨盘表面目数大于第二磨盘表面目数,所述第二磨盘表面目数大于第三磨盘表面目数。
优选的,所述转轴远离电机的一端穿过第一支撑板延伸至第一支撑板的外侧。
优选的,所述第一电控滑轨和第一滑块分别关于底板的水平中心线对称设置有两组,每组所述第一电控滑轨和第一滑块分别设置有一个。
优选的,所述夹具包括安装板,所述安装板的左侧固定连接有第一安装块,所述第一安装块的内部开设有螺纹孔,所述螺纹孔的内部设置有螺纹杆,所述第一安装块的下端设置有第二安装块,所述第二安装块的内部开设有相同的螺纹孔,所述第二安装块靠近安装板中心的一侧开设有卡槽。
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