[实用新型]一种智能开关触头温度测试设备

说明书

本实用新型公开了一种智能开关触头温度测试设备，包括密封罩，所述密封罩由左半罩与右半罩通过卡接机构相卡接组成，密封罩底部开口，密封罩上前后两侧位置分别预设有通口，开关控制器的开关触片一与开关触片二分别从通口伸至密封罩内，密封罩上顶部位置嵌装有半导体制冷片，半导体制冷片的冷端位于密封罩内侧而热端位于密封罩外侧，密封罩上还嵌装有伸至密封罩内的温度传感器，所述温度传感器与半导体制冷片以及开关控制器均与外设的MCU与供电单元相电连，MCU上还连接有计时模块、显示单元、电阻测量器和告警模块。本实用新型提供一种智能开关触头温度测试设备，结构设置巧妙，且布局合理，该测试设备操作简单，检测结果准确度高，使用便利。

技术领域

本实用新型涉及开关测试设备技术领域，具体是一种智能开关触头温度测试设备。

背景技术

开关的词语解释为开启和关闭。它还是指一个可以使电路开路、使电流中断或使其流到其他电路的电子元件。最常见的开关是让人操作的机电设备，其中有一个或数个电子接点。接点的“闭合”表示电子接点导通，允许电流流过；开关的“开路”表示电子接点不导通形成开路，不允许电流流过。

目前开关在进行测试时，针对开关触片位置的温度测试存在着测试精度不佳的情况，究其原因是触片位置位于开关内，环境相对密封，接通电路测试前，环境条件尤其是温度条件并未达到测试标准温度，从而在测试触片温度是会存在误差，导致一些实际合格却检测结果为不良的情况出现，降低了企业的生产效益。因此我们提出一种智能开关触头温度测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种智能开关触头温度测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种智能开关触头温度测试设备，包括密封罩，所述密封罩由左半罩与右半罩通过卡接机构相卡接组成，密封罩底部开口，密封罩上前后两侧位置分别预设有通口，开关控制器的开关触片一与开关触片二分别从通口伸至密封罩内，密封罩上顶部位置嵌装有半导体制冷片，半导体制冷片的冷端位于密封罩内侧而热端位于密封罩外侧，密封罩上还嵌装有伸至密封罩内的温度传感器，所述温度传感器与半导体制冷片以及开关控制器均与外设的MCU与供电单元相电连，MCU上还连接有计时模块、显示单元、电阻测量器和告警模块。

通过半导体制冷片为相对密封的开关触片环境温度进行降温，使其在生产环境中积蓄封闭的高于实验要求的温度下降，从而以实验标准温度进行起步测试，避免了内部温度对测试结果产生的影响，确保了测试结果准确性。

作为本实用新型的进一步方案：所述卡接机构包括右半罩上朝向左半罩一侧热熔固定的固定块以及左半罩上朝向右半罩一侧预设的与固定块相对应的凹槽，通过凹槽与固定块的插接进行固定。

作为本实用新型的再进一步方案：所述固定块上下两侧预设有下沉槽，下沉槽内放置有连接杆，连接杆右端与下沉槽右侧的固定块相铰接连接，下沉槽内左侧位置设置有弹簧，弹簧的两端分别点焊固定于连接杆左侧底部以及下沉槽内左侧位置，弹簧推挤连接杆靠近凹槽内壁增加摩擦，从而提高卡接牢固性。

作为本实用新型的再进一步方案：所述连接杆上左端顶部位置铰接固定有滚珠，滚珠抵至凹槽上下内壁预设的弧形槽内，滚珠方便进行拆装。

作为本实用新型的再进一步方案：所述右半罩上与左半罩相卡接一侧粘有密封垫，确保密封性。

作为本实用新型的再进一步方案：所述通口内壁上粘有绝缘垫，密封罩上底部边缘位置粘有防粘胶，确保放置稳定。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于以下几个方面：

本实用新型中，通过半导体制冷片为相对密封的开关触片环境温度进行降温，使其在生产环境中积蓄封闭的高于实验要求的温度下降，从而以实验标准温度进行起步测试，避免了内部温度对测试结果产生的影响，确保了测试结果准确性。