[实用新型]一种芯片检测治具

权利要求书

1.一种芯片检测治具，包括检测底座（1），其特征在于，所述检测底座（1）顶端的中部开设有检测槽（10），所述检测槽（10）的内部嵌设有芯片检测块（13），所述芯片检测块（13）与检测槽（10）之间通过紧固螺栓（11）固定连接，所述芯片检测块（13）的顶部固定设有芯片通电针（12），所述芯片通电针（12）通过外接PLC控制器与配套的指示灯电性连接，所述检测底座（1）的顶端盖设有盖板（3），所述盖板（3）的两侧均开设有两个安装孔（4），所述盖板（3）顶端的两侧均螺纹连接有锁紧螺栓（6），所述检测底座（1）顶端的两侧均开设有固定孔（14），两个所述锁紧螺栓（6）与对应的固定孔（14）螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）的两侧均固定安装有稳定机构，所述稳定机构由两个连接块（7）和拉杆（8）组成，两个所述连接块（7）之间固定安装有拉杆（8），两个所述连接块（7）的一侧与检测底座（1）内壁的两侧固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述盖板（3）顶端的两边侧均固定安装有连接柱（5），两个所述连接柱（5）的顶端与外接电动推杆的伸缩端固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）的底端固定设有多根连为一体的固定柱（2），多根所述固定柱（2）外接工作台的顶端固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）顶端的四个边角处均开设有限位孔（9），四个所述限位孔（9）与外接的限位柱穿插连接。

6.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）和盖板（3）均由金属铝材质制成。

7.根据权利要求1所述的一种芯片检测治具，其特征在于：所述检测底座（1）的长度为50mm±0.01mm，所述检测底座（1）的宽度为38mm±0.01mm。