[实用新型]一种自动化IC测试分选设备

说明书

本实用新型公开了一种自动化IC测试分选设备，包括主体，所述主体的下端设置有支撑架，所述主体的上端设置有调心托辊组，所述调心托辊组的一侧设置有垂直料道，所述垂直料道的一侧设置有固定板，所述垂直料道的另一侧设置有分选机构，所述分选机构的上端设置有进料斗，所述分选机构的一侧设置有料管，所述分选机构的下端设置有储料仓，所述料管的一侧设置有直线导轨。本实用新型所述的一种自动化IC测试分选设备，在直线导轨的作用下，使其产生的滚动摩擦变成滑动摩擦，从而减少摩擦力度，在调心托辊组的作用下，可以防止原料在分选过程中偏离，在信号连接器的作用下，可以大幅度的提升检测信号的接收，带来更好的使用前景。

技术领域

本实用新型涉及自动化IC测试分选设备领域，具体为一种自动化IC测试分选设备。

背景技术

自动化IC测试分选设备是将大量的微电子元器件形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，集成电路芯片在出厂前必须经过严格测试，测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数，人们需要将测试结果不在合格范围内的集成电路芯片筛选出来，并将测试结果不同的集成电路芯片进行分类，随着科技不断发展人们对于此分选设备的制造工艺要求也越来越高。

现有的自动化IC测试分选设备在安装使用时，存在着一定的弊端，传统的IC测试分选设备在使用过程中，经常会因外界因素所影响导致原料分选不够准确，使其偏离，由于长时间工作各部件所传输的信号不够及时，经常有延迟现象，工作效率过慢，给人们的使用过程带来了一定的不利影响，为此，我们提出一种自动化IC测试分选设备。

实用新型内容

解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种自动化IC测试分选设备，首先，在直线导轨的作用下，可以使设备工作时，使其产生的滚动摩擦变成滑动摩擦，从而减少摩擦力度，提高工作效率，不仅摩擦阻力小，而且移动轻便，磨损小、精度保持性好，可以延长设备的使用寿命，在调心托辊组的作用下，可以防止原料在分选过程中偏离，此装置具有纠偏能力，在信号连接器的作用下，可以大幅度的提升检测信号的接收，还可以将不同的信号连接在一起，使用性能提高，可以有效解决背景技术中的问题。

技术方案

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：一种自动化IC测试分选设备，包括主体，所述主体的下端设置有支撑架，所述主体的上端设置有调心托辊组，所述调心托辊组包括托辊、金属支架、固定横梁，所述调心托辊组的一侧设置有垂直料道，所述垂直料道的一侧设置有固定板，所述垂直料道的另一侧设置有分选机构，所述分选机构的上端设置有进料斗，所述分选机构的一侧设置有料管，所述分选机构的下端设置有储料仓，所述料管的上端设置有信号连接器，所述信号连接器包括金属插头、存储装置、金属底座，所述料管的一侧设置有直线导轨，所述直线导轨包括回流模组、防尘片、刮油片、滑块、螺栓。

优选的，所述回流模组位于防尘片的一侧，所述刮油片位于防尘片的另一侧，所述螺栓位于刮油片的前端外表面，所述滑块位于刮油片的上端。

优选的，所述托辊位于金属支架的上端，所述固定横梁位于金属支架的下端。

优选的，所述金属插头位于存储装置的上端，所述金属底座位于存储装置的下端。

优选的，所述回流模组与防尘片之间设置有强力胶，所述回流模组的一侧通过强力胶与防尘片的一侧固定连接，所述防尘片与刮油片之间设置有焊接块，所述防尘片的另一侧通过焊接块与刮油片的一侧固定连接，所述刮油片与滑块之间设置有金属块，所述刮油片的上端通过金属块与滑块的下端固定连接，所述刮油片与螺栓之间设置有卡槽，所述螺栓的后端通过卡槽与刮油片的前端固定连接。

优选的，所述托辊与金属支架之间设置有卡槽，所述托辊的下端外表面通过卡槽与金属支架上端外表面固定连接，所述金属支架与固定横梁之间设置有焊接块，所述固定横梁的上端外表面通过焊接块与金属支架的下端外表面固定连接。