[实用新型]一种新型半导体可靠性测试探针

说明书

本实用新型公开了一种新型半导体可靠性测试探针，属于半导体检测技术领域，包括顶板，所述顶板底部表面安装有套管，所述套管内壁表面开设有内螺纹，所述套管底部表面设有限位管，所述限位管外壁表面顶部开设有外螺纹，所述限位管右侧壁开设有通孔，所述限位管内腔插接有测试探针主体，所述测试探针主体右侧壁顶部开设有卡槽，所述限位管内腔顶部设有塞块。本实用新型通过套管和限位管相互配合，既能对限位管安装作用，又能方便限位管后期的拆卸维护，并且弹簧，可缓冲测试探针主体在对半导体测试的压力，同时限位螺栓，可起到对测试探针主体限位的作用，使得测试探针主体在一定的范围内上下伸缩，提高了测试探针主体的使用安全。

技术领域

本实用新型涉及半导体检测技术领域，尤其涉及一种新型半导体可靠性测试探针。

背景技术

精密测试探针英文名Testprobe，是精密电测试过程中必不可少的部件。在电子电路研发和生产的过程中，经常需要对信号的通断以及质量进行测试分析，这个时候就需要使用精密测试探针将信号无损的接取出来提供给相应的ICT或者测试系统进行整合分析。测试探针质量的好坏，很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。按照测试探针的应用领域来区分，测试探针又分为常规ICT探针、半导体测试探针、RF高频测试探针、大电流探针、电池接触探针。

现有的半导体可靠性测试探针在使用，既不能方便工作人员对其进行拆卸更换，自身又不具有缓冲功能，进而使得半导体可靠性测试探针在使用时压力过大而造成半导体损坏，降低了半导体测试安全。为此，我们提出一种新型半导体可靠性测试探针。

实用新型内容

本实用新型提供一种新型半导体可靠性测试探针，通过套管和限位管相互配合，既能对限位管安装作用，又能方便限位管后期的拆卸维护，并且弹簧可在固定块的连接下使得测试探针主体灵活在伸缩，以便于能够缓冲测试探针主体在对半导体测试的压力，同时限位螺栓，可起到对测试探针主体限位的作用，使得测试探针主体在一定的范围内上下伸缩，提高了测试探针主体的使用安全。

本实用新型提供的具体技术方案如下：

本实用新型提供的一种新型半导体可靠性测试探针，包括顶板，所述顶板底部表面安装有套管，所述套管内壁表面开设有内螺纹，所述套管底部表面设有限位管，所述限位管外壁表面顶部开设有外螺纹，所述限位管右侧壁开设有通孔，所述限位管内腔插接有测试探针主体，所述测试探针主体右侧壁顶部开设有卡槽，所述限位管内腔顶部设有塞块，所述塞块底部安装有弹簧，所述弹簧底部表面安装有固定块，所述限位管外侧壁安装有螺帽，且螺帽设置于通孔一端，所述螺帽表面转连接有限位螺栓。

可选的，所述顶板表面环设有安装孔，且安装孔具体设有若干组。

可选的，所述限位管经外螺纹和内螺纹与套管转动相连。

可选的，所述固定块底部表面与测试探针主体顶端相连。

可选的，所述限位螺栓贯穿通孔与测试探针主体上的卡槽相连。

可选的，所述测试探针主体表面安装有加强圈，且加强圈具体设有两组。

本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过螺钉可经安装孔将顶板安装在指定位置，通过在顶板底部表面安装有套管，从而能够使得顶板可对套管安装固定，通过转动限位管，可经外螺纹和内螺纹安装在套管上，既能对限位管安装作用，又能方便限位管后期的拆卸维护，并且限位管，可对测试探针主体安装，通过塞块，可对弹簧提供支撑，进而能够使得弹簧在固定块的连接下使得测试探针主体灵活在伸缩，以便于能够缓冲测试探针主体在对半导体测试的压力，提高了半导体测试的安全。