[实用新型]一种基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置

说明书

本实用新型公开了一种基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置，其包括有2个接口单元，所述接口单元用于连接上位机，每个接口单元连接有2个USB HUB芯片，每个USB HUB芯片连接有4个USB接口，所述USB接口为9PIN公针USB接口，2个所述接口单元、4个所述USB HUB芯片和16个所述USB接口集成于同一线路板上，所述上位机通过所述接口单元和所述USB HUB芯片与插接于所述USB接口的USB DOM电子盘建立通信，进而对所述USB DOM电子盘进行测试。本实用新型能够对16个USB DOM电子盘进行批量测试、能够匹配USB DOM电子盘的9PIN接头，进而提高测试性能以及测试效率。

技术领域

本实用新型涉及USB DOM电子盘测试装置，尤其涉及一种基于USB HUB集群的USBDOM电子盘测试装置。

背景技术

现有的USB集群设计原理请参见图1和图2，常见的USB HUB一般是一拖七USB HUB架构，一拖七USB HUB包括USB数据线和USB HUB本体，USB数据线的一端设置有1个USB公头接口，所述USB数据线的另一端连接USB HUB本体。此类集群设计主要存在如下缺陷：首先，市场上常见的USB HUB一般是4 个接口或者8个接口的，接口数量太少，无法进行统一的集群测试；其次，市场上的USB HUB，其在测试过程中，因缺少明确指示，导致某一接口出现问题时，无法及时做出提醒；此外，市场上的USB HUB基本是Micro USB 2.0连接器和USB 3.0连接器，因缺少USB DOM盘的9pin接口，导致现有USB集群无法应用于批量测试USB DOM电子盘的工作中，难以满足用户需要和市场需求。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种能够对16个USB DOM电子盘进行批量测试、能够匹配USB DOM电子盘的9PIN接头，进而提高测试性能以及测试效率的基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案。

一种基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置，其包括有2个接口单元，所述接口单元用于连接上位机，每个接口单元连接有2个USB HUB芯片，每个USB HUB芯片连接有4个USB接口，所述USB接口为9PIN公针USB接口， 2个所述接口单元、4个所述USB HUB芯片和16个所述USB接口集成于同一线路板上，所述上位机通过所述接口单元和所述USB HUB芯片与插接于所述USB 接口的USB DOM电子盘建立通信，进而对所述USB DOM电子盘进行测试。

优选地，每个USB接口的相邻处设有指示灯组件，所述指示灯组件通过所述接口单元连接于上位机。

优选地，所述指示灯组件包括有绿灯和红灯。

优选地，相邻2个USB接口之间的横向间距不小于27mm。

优选地，所述USB HUB芯片的型号为MA8601，4个USB接口的数据引脚 D+分别连接于所述USB HUB芯片的DP1引脚、DP2引脚、DP3引脚和DP4引脚， 4个USB接口的数据引脚D-分别连接于所述USB HUB芯片的DM1引脚、DM2 引脚、DM3引脚和DM4引脚。

本实用新型公开的基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置中，每个接口单元可以扩展连接2个USB HUB芯片，每个USB HUB芯片可以扩展连接4 个USB接口，使得上位机可以对16个USB DOM电子盘进行批量测试，大大提升了测试效率，同时，本实用新型将2个所述接口单元、4个所述USB HUB芯片和16个所述USB接口集成于同一线路板上，使得整个测试装置的集成度更高，整体性能更好，此外，本实用新型将所述USB接口设置为9PIN公针USB接口，这种接口类型可以满足与9PIN母头USB DOM电子盘的匹配需要，无需另外配置转接头或者插座等，使得USB DOM电子盘的测试工作更加方便、快捷，较好地满足了应用需求。

附图说明