[实用新型]同轴测试探针模组及其测试装置

说明书

一种同轴测试探针模组及其测试装置，同轴测试探针模组包括金属空心基座、探针、连接部以及测试部。探针穿设于金属空心基座中，各探针分别具有连接端及测试端，各探针的测试端穿设于金属件，使探针的测试端的末端凸出于金属件。各探针的连接端分别连接至一连接部。测试部具有相对设置的第一表面及第二表面，探针的测试端自第二表面穿入测试部，直至探针的金属件位于测试部中，且探针的测试端的末端露出于第一表面。本实用新型通过同轴的结构，使探针有效地达到阻抗匹配，并取代板对板连接器公母头对扣的测试方式，毋须承担连接器压伤与零件故障的风险。

技术领域

本实用新型是有关于一种同轴测试探针模组及其测试装置，特别是指一种使用于高频传输线量测时，能有效达到阻抗匹配的同轴测试探针模组及其测试装置。

背景技术

传统的测试模组主要是由弹簧针(Pogo Pin)及印刷电路板(Printed CircuitBoard，PCB)所组成，由于结构复杂，阻抗不连续点多，用来进行传输线测试时，常因为测试针模无法有效地做到阻抗匹配，而使得测试设备与待测物之间反射量过大，而无法精准量测到传输线的S参数(S-parameter)。

若是改采用将板对板连接器(Board to Board Connector，BTB Connector) 的公母头对扣方式进行测试，将不适合于量产过程中的测试，也容易在测试的过程中产生连接器压伤的情形，承担零件故障的风险。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型于一实施例中提供一种同轴测试探针模组，包括金属空心基座、多个探针、多个连接部以及测试部。金属空心基座具有位于相对二侧的第一端部及第二端部。多个探针穿设于金属空心基座中，各探针分别具有连接端及测试端，各探针的连接端凸出于金属空心基座的第一端部，各探针的测试端凸出于金属空心基座的第二端部，且各探针的测试端穿设于金属件，使探针的测试端的末端凸出于金属件，且于金属件内填充绝缘材料，以包覆位于金属件内的探针。各探针的连接端分别连接至一连接部。测试部具有相对设置的第一表面及第二表面，探针的测试端自测试部的第二表面穿入测试部，直至探针的金属件位于测试部中，且探针的测试端的末端露出于测试部的第一表面。

在一些实施例中，绝缘材料为铁氟龙。

在一些实施例中，还包括固定件，固定件设置于金属空心基座的第一端部，且连接部组设于固定件。

在一些实施例中，还包括组装件，设置于金属空心基座的第二端部并具有通孔，测试部穿设于通孔并固设于组装件。

在一些实施例中，测试部的第二表面侧具有顶抵部，顶抵部面积大于通孔的截面积，使顶抵部顶抵于组装件邻近金属空心基座的一侧。

本实用新型于另一实施例中提供一种测试装置，包括载板、驱动件以及如上所述的同轴测试探针模组。载板具有容置槽，容置槽放置待测传输线。至少一同轴测试探针模组组设于驱动件，且位于载板的上方并对应于容置槽，驱动件带动至少一同轴测试探针模组靠近载板直至使至少一同轴测试探针模组的探针的测试端的末端接触待测传输线。

在一些实施例中，至少一同轴测试探针模组的测试部的第二表面凸设有多个定位件。

在一些实施例中，定位件凸出于第二表面的高度是小于探针的测试端的末端凸出于第二表面的高度。

综上所述，本实用新型所提供的同轴测试探针模组及其测试装置，通过同轴的结构，使探针有效地达到阻抗匹配，且探针的外壳是金属空心基座，探针的测试端穿设于金属件，可以使得整个测试组件与待测传输线共地，以增加接地面积，提升整体稳定度，减少测试的杂波。并且，还可以取代板对板连接器公母头对扣的测试方式，毋须承担连接器压伤与零件故障的风险。再者，本实用新型所提供的同轴测试探针为活动式探针，在测试装置中，直接锁在测试夹具上即可使用，有效提升测试夹具的灵活性，也同时缩短测试夹具的开发周期与验证时间，减少成本。