[实用新型]一种多路并行老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种多路并行老化测试装置，包括外壳，所述外壳上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构，弹簧压紧限位结构内部设有用于测试的制冷片，所述每个弹簧压紧限位结构旁设有接线座，所述外壳侧面设有开关、计时器和蜂鸣器，外壳内部设有控制器。上述技术方案通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，且使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。

技术领域

本实用新型涉及半导体制冷片生产技术领域，尤其涉及一种多路并行老化测试装置。

背景技术

半导体制冷片是一种由半导体所组成的冷却装置，利用半导体材料的特性，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端分别吸收热量和放出热量，实现制冷的目的。半导体制冷片是由陶瓷片和焊接在陶瓷片上的多颗晶粒组成的。半导体制冷片的体积小巧，可靠性比较高，通常应用在空间受到限制的场所。

在半导体制冷片生产加工过程中，为了确保其出厂后的性能稳定，按工艺要求需要对制冷片进行老化测试，以判断制冷片是否满足出厂条件。在现有技术中，半导体制冷片老化装置多为单枚进行老化，且限位固定效果差，导致老化效率低且测试精度差等问题。

中国专利文献CN210720611U公开了一种“基于恒温平台的半导体制冷片老化测试治具”。包括：恒温平台、电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在恒温平台上，所述电控装置线性连接在电源与半导体制冷片之间，进行半导体制冷片的间歇性供电，所述温度监控记录仪的探头与半导体制冷片的表面相连接进行温度监测。上述技术方案对单枚进行老化半导体制冷片，且限位固定效果差，导致老化效率低且测试精度差等问题。

发明内容

本实用新型主要解决原有的测试装置对单枚半导体制冷片进行老化测试，老化效率低且测试精度差的技术问题，提供一种多路并行老化测试装置，通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，且使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。

本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：本实用新型包括外壳，所述外壳上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构，弹簧压紧限位结构内部设有用于测试的制冷片，所述每个弹簧压紧限位结构旁设有接线座，所述外壳侧面设有开关、计时器和蜂鸣器，外壳内部设有控制器。

作为优选，所述的控制器分别与开关、计时器、蜂鸣器、继电器、传感器相连，所述开关经过继电器与制冷片相连。计时器用于控制器记录待测半导体制冷片的寿命时长，蜂鸣器用于提醒检测是否完成，继电器用于控制开关电源与待测制冷片的电流。

作为优选，所述的弹簧压紧限位结构包括散热器、压板和垂直于散热器的压杆，所述压板一端与压杆固定连接，压板另一端设有压头，所述压头与压板之间设有弹簧，所述制冷片设于压头与散热器之间。

作为优选，所述的散热器下方设有散热风扇，所述散热风扇对应的外壳下表面和侧面设有散热孔。制冷片老化测试过程中产生大量热量，散热器、散热风扇和散热孔配合实现迅速散热。

作为优选，所述的传感器包括温度传感器和电流传感器，所述温度传感器、电流传感器与制冷片相连。控制回路中装有温度传感器和电流传感器，温度传感器用于检测半导体制冷片温度，并将温度信息反馈给控制器，电流传感器用于检测半导体制冷片的电流值，并将电流信息反馈给控制器。

作为优选，所述的散热孔包括散热风扇对应的外壳下表面的圆孔散热孔和外壳侧面的格栅散热孔。

本实用新型的有益效果是：

1.通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，

2.使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。

附图说明